其分析原理是先把表面一定厚度的元素溅射掉,然后再用XPS分析剥离后的新鲜表面的元素含量,从而获得元素沿样品深度方向的分布。XPS的Ar离子溅射深度分析,灵敏度不如二次离子质谱(简称为SIMS),但在定量分析中显示的基体效应相对较小。 另外,XPS的溅射深度分析的优点...
准石墨化碳层,同时通过深度剖面分析发现: n 1s峰强度逐步降低,但是刻蚀到cu纳米颗粒层时仍能观察到n 1s的峰强 , 这说明 n元素成功渗透到准准石墨化碳层内,并结合到cu纳米颗粒上 .通过高分辨 tem( 图 4 )以及飞行时间深度剖...
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