TOF-SIMS质谱分析(Surface Spectrum) 无机材料:可检测到元素、同位素、氧化物离子、无机盐离子(Cl/F/CN/NOx/ SOx/POx)、以及材料表面吸附的CxHy 等组分信息。 TOF-SIMS成像分析 TOF-SIMS深度剖析(Depth Profiles ) 数据采集: 交替式深度...
香港科技大学(广州)消息称,中国广州已获国际二次离子质谱(Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS)组委会同意,得到2026年国际SIMS会议的举办权,大会首次落户中国,将在香港科技大学(广州)举行。2026年国际SIMS会议组织委员会主席将由香港科技大学(...