系统级测试(SLT)是指在仿真的终端使用场景中对待测芯片(DUT)进行测试的过程。与传统的自动测试设备(ATE)不同,SLT无需创建测试向量,而是通过运行和使用待测芯片来完成测试,尽管仍需要编写测试,但编写方式有所不同。测试流程如下: 执行特定操作,可能是系统使用过程中的内在操作,如启动操作系统,或者运行特定程序来评估...
由于片上系统（SoC）和系统级封装（SIP）芯片是SLT的主要测试对象，因此测试用处理器往往就是待测芯片本身，或者待测芯片的外围测试系统会配备一个专门的处理器。相较于传统ATE的快速结构测试，SLT的功能测试更贴近真实终端使用场景，因此测试时间通常较长，可能超过一分钟甚至数十分钟，典型的测试时间约为10分钟。这...
SLT中的系统是在测试板上实现的,该测试板与最终使用该芯片的产品的电路板非常相似。测试板可能包括以下功能和特性: •01、与待测芯片相匹配的引脚底座•02、可放在测试板上的所有待测芯片外设,包括:•PMIC•RAM•存储(如NVMe、eMMC)•SD卡•USB闪存•PCIe外设(如NVMe)•03、仿真电路和回环,用于无...
从以下几个图中可以看到有关成本的几个方面:在某种程度上,ATE成本与复杂性/晶体管数呈线性关系;SLT不是捕捉“典型”ATE故障的经济有效的方法;SLT在筛选出测试流程结束时最后几个难以发现的故障方面非常经济有效;因此,对于具有非常高质量需求的应用,将SLT添加到现有ATE测试流程后通常是最具成本效益的总体测试策略。 ...
SLT支持对接口进行测试，因为待测芯片将在真实环境中使用，以便发现ATE中可能没有出现的故障。如今的系统非常复杂，因此缺陷很难避免。设计验证环节应该在零件或系统投入生产之前发现这些缺陷，但是，其中一些设计缺陷很难察觉，这就导致许多系统需要运行很长时间才能出现这种系统故障形式的缺陷。更多时候，发现这些缺陷所需...
而SLT测试则能在那剩余的5%未测晶体管中精准发现潜在故障。那么，什么是SLT呢？系统级测试（SLT）本质上是一种在模拟终端使用情境下对芯片进行功能测试的方法。与传统的ATE测试不同，SLT并不依赖预先设定的测试向量，而是通过实际运行系统软件来全面检验芯片的各个功能模块。这种测试方式能更真实地反映芯片在实际应用中...
半导体封装测试与系统级测试（SLT）在电子产品的制造过程中，半导体封装测试是一个不可或缺的环节。它主要负责对半导体器件进行物理和电气性能的检测，以确保产品的质量和可靠性。而系统级测试（SLT），则更是确保复杂电子系统稳定性的关键技术。通过这一环节，可以对整个系统进行全面的功能和性能测试，从而确保系统在...
系统级SLT测试,常应用于功能测试、性能测试和可靠性测试中,常常作为成品FT测试的补充而存在,顾名思义就是在一个系统环境下进行测试,就是把芯片放到它正常工作的环境中运行功能来检测其好坏,缺点是只能覆盖一部分的功能,覆盖率较低所以一般是FT的补充手段。
北京清析技术研究院 芯片SLT测试,也就是系统级测试,是在仿真的终端使用场景中对待测芯片进行测试的。它纯粹通过运行和使用来完成测试,无需像传统ATE那样创建测试向量,但仍需要编写测试,编写方式有所不同。SLT测试能模拟真实终端使用场景,发现一些传统测试无法发现的故障,对于提高产品质量和缩短上市时间至关重要。
二、SLT测试插座的主要功能 1.功能测试：验证芯片在实际工作条件下的功能表现，确保其满足设计规范。2.性能测试：评估芯片的性能参数，如速度、功耗、信号完整性等，确保其达到预期性能。3.可靠性测试：在不同温度、湿度等环境条件下，对芯片进行长时间运行测试，评估其可靠性。4.老化测试：通过加速老化测试，发现潜在...