大多数情况下,SLT中的系统会配备一些板载处理器来执行测试流程。由于片上系统(SoC)和系统级封装(SIP)芯片是SLT的主要测试对象,因此测试用处理器通常就是待测芯片的一部分。如果不是此种情况,待测芯片的外围测试系统通常会配备 一个合适的处理器。 SLT的测试时间比传统ATE的测试时间长很多,因为SLT是模拟真实终端使用...
DC test也就是检查器件直流的电流和电压的参数。 Eflash test也就是检查内嵌的flash功能和性能,包含读写参数动作功耗和速度等各种参数。 Function test就是测试芯片的逻辑功能, AC test就是验证交流的规格,包括交流输出信号的质量和信号的实际参数。 RF test这个就是针对有射频模块的芯片,主要验证射频模块的功能和性...
与待测芯片相匹配的Socket 可放置在测试板上的所有待测芯片外设，如PMU、RAM、存储（FLASH、NVMe、eMMC...
公司致力于各类存储器(SPI NOR FLASH®、NAND FLASHTM)、控制器(GD32TM MCU)、生物识别传感器的设计研发。现有员工800余人,研发人员比例占全员比例60%以上,85%以上研发人员来自211或985高校。我们广纳雄心勃勃的专业人员和高级人才,同时提供包括基础13薪、年终奖金、股权激励、各类补贴、七险一金(养老保险、医疗保...
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深圳市江波龙电子股份有限公司(以下简称“公司”)主要从事Flash及DRAM存储器的研发、设计和销售。公司聚焦存储产品和应用,形成固件算法开发、存储芯片测试、集成封装设计、存储产品定制等核心竞争力,提供消费级、工规级、车规级存储器以及行业存储软硬件应用解决方案。公司已形成嵌入式存储、固态硬盘(SSD)、移动存储及内存...
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