如果有一些特殊要求,还可以让工艺往一个方向拉偏,比如SS corner DFT测试杀良率,条件允许可以让工艺整个往FF拉偏。这都是后话。 我们再回它对芯片的影响,设计要保证所有corner STA都没问题,否则影响良率。所以虽然芯片造出来可能大多数在tt附近游荡,但是其实要保证所有corner都可用,至于怎么保证我们下面讲。 2. B...
如果有一些特殊要求,还可以让工艺往一个方向拉偏,比如SS corner DFT测试杀良率,条件允许可以让工艺整个往FF拉偏。这都是后话。 我们再回它对芯片的影响,设计要保证所有corner STA都没问题,否则影响良率。所以虽然芯片造出来可能大多数在tt附近游荡,但是其实要保证所有corner都可用,至于怎么保证我们下面讲。 2. B...
我们就称这些极端的环境为corner。一般setup检查要对应最快的corner，hold检查要对应最慢的corner。在众多环境因素中，有一项是net的寄生参数RC值，它可以反映net的delay大小。大学的时候都学过RC电路一阶相应，公式已经不记得了，只记得电路RC值越大，电路充放电越慢，RC越小，充放电越快。所以一般来说，net的电容...
Rcbest rcworst 并不是说在先进工艺下cbest cworst corner就没用了,实际上,只有当导线比较长的时候,delay的极值才会发生在rcbest和rcworst的corner上,对于短导线、driver电阻很大的时候,cbest和cworst才能反映delay的极值。所以实际为了稳妥起见,这四个corner我们都会进行signoff。 另外如果考虑DPT(double pattern techn...
我先简单介绍一些什么是signoff的corner,然后重点聊一聊RC corner。 芯片在工作的时候,不同的工艺、电压、温度会影响芯片的性能,我们不能保证所有芯片都工作在相同的环境中,比如我们的手机在东北要能用,在东北的澡堂子也要能用,所以我们必须要在不同环境下一一检查芯片,确保不会出现错误才行。一般说来,我们只要...
90nm 之后,netdelay的比重越来越大,而且network的耦合电容不可忽略,所以又增加了两个RC corner: RCbest(XTALK corner): 耦合电容最大,(对地电容*电阻)最小 RCworst(Delay corner): 耦合电容最小,(对地电容*电阻)最大 至此总共有两个需要setup timing sign-off的RC corner,有四个需要hold timing sign-off的...
Semiconductor companies continue to use the traditional corner-based signoff approach that has been developed more than 40+ years ago and has since remained mainly unchanged as an industry paradigm. Initially it had 2 corners, namely Worst Case (WC) and
在每个工艺结点,通过大量的建模跟实测,针对每个具体的工艺,foundary厂都会提供一张推荐的timingsignoff表格, 建议需要signoff的corner及各个corner需要设置的ocv跟margin。这些corner能保证大部分芯片可以承受温度、电压跟工艺偏差,一个corner=libraryPVT+ RC corner + OCV,本文将关注于library PVT。
RCbest(xtalk corner): (对地电容+耦合电容)*电阻最小,耦合电容最小,电阻最小,对于long nets来说,有最小的delay,可以用于min-path-analysis。 RCworst(delay corner): (对地电容+耦合电容)*电阻最大,耦合电容最大,电阻最大,对于long nets来说,有最大的delay,可以用于max-path-analysis。
The paper describes contemporary corner-based timing signoff methodology and tools and why they have problems to handle multiple global and local variations in process (transistor, wireand via parameters), voltages (including multiple V-domains that may be partially correlated),temperatures, and aging...