SI-F80R系列激光位移传感器基恩士KEYENCE 基恩士KEYENCE激光位移传感器SI-F80R 系列是品牌中主推的一项产品,此产品具有**的测量、良好的性能而备受关注。 它的**度可以到测量一个物体的晶片厚度,在测量过程中,几乎不受晶片图案的影响,在同品牌中规格算是*高的了,采用了近红外SLD,可穿过硅、砷化镓、碳化硅、磷化铟、...
通过减少小光点直径和光点内的表面相差可最大限度的减发少晶片表面图案的变化和测量警报的发生次数 专为晶圆测厚打造的传感器SI-F80R 分光干涉晶片厚度计SI-F80R 即使是已封胶的晶片,亦能测出其厚度 专为晶圆测厚打造的传感器 分辨率 0.25μm 采样速度 5K HZ 工作距离 80mm 小型感测头 φ12mm 精确的只测量晶片...
SI-F80R*1 类型 晶片厚度测量型 传感头 测量范围 10 至 310 µm (n=3.5 时)*2 可实现的检测距离 80 至 81.1 mm 光源 红外SLD 输出 0.6 mW, 1 类激光产品(IEC60825-1, FDA(CDRH)Part 1040.10*3) 光束直径 ø25 µm*4 线性度 ±0.1 µm*5 ...
公司名片 手机号: 联系人:刘威 公司名称:深圳市东为源电子技术有限公司 立即询价 进入店铺 马可波罗网>电子元器件>传感器>其他传感器>原装 基恩士KEYENCE SI-F80R 系列 分光干涉式晶片厚度计 最近被加入的企业 名片夹还没有企业信息,赶紧查看企业联系方式加入吧!
SI-F80R 系列 下载目录 控制器 出口管制不受控制品 带显示单元SI-F1003V *请注意,图片中的配件可能不包括在产品中。 下载目录 技术规格(PDF) 技术规格(PDF) 手册 CAD 数据 360°查看 (3D PDF) 产品尺寸 软件 规格 型号 SI-F1003V 类型 主控制器一体型 ...
基恩士 SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计 可在生产线上进行测量 基恩士(中国)有限公司 仪器种类:型号:SI-F80R 详细参数和报价申请演示询 价 产品简介 当被测物体发生位移时,两条光线经过的光程差也会发生变化,从而导致干涉条纹的移动。通过测量干涉条纹的移动量,就可以确定被测物体发生的位移量。分光干涉式位移计...
基恩士 SI-F80R系列 分光干涉式晶片厚度计 用于机械加工领域 基恩士(中国)有限公司 仪器种类:型号:SI-F80R 详细参数和报价申请演示询 价 产品简介 机械加工是指通过一种机械设备对工件的外形尺寸或性能进行改变的过程。按加工方式上的差别可分为切削加工和压力加工。机器的生产过程是指从原材料(或半成品)制成产品...
分光干涉式晶片厚度计 SI-F80R 系列 下载目录 概述 产品规格 型号 下载 价格咨询首页 产品 测量仪 / 测量传感器 分光干涉式激光位移计 分光干涉式晶片厚度计 型号 超小型开关电源 超小型开关电源 CA-U4 (CA-U4#) *请注意,图片中的配件可能不包括在产品中。 下载目录 技术规格(PDF) 技术规格(...
产品型号:SI-F80R 品牌:基恩士 产品产地:日本 产品类型:进口 原制造商:基恩士 状态:在售 厂商指导价格: 1000~20000元[人民币] 上市时间: 2017年 英文名称:SI-F80R 优点:采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。
SI-F80R 系列 下载目录 控制器 出口管制不受控制品SI-F1003 *请注意,图片中的配件可能不包括在产品中。 下载目录 技术规格(PDF) 技术规格(PDF) 手册 CAD 数据 360°查看 (3D PDF) 产品尺寸 软件 规格 型号 SI-F1003*1 类型 主控制器 独立型*2 ...