CIQTEK SEM5000は、高解像度、高機能な電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM、FEG SEM)です。 先進的なカラム設計、高電圧トンネル技術(SuperTunnel)、低収差非漏洩磁気対物レンズ設計、低電圧高解像度イメージングを達成するために、磁気試料を適用することができますが。光学ナビゲー
型号:走査型電子顕微鏡(SEM)用高圧電源HMB系列 品牌:日本松定电源[鹏控代理] 产品说明 HMBシリーズ 走査型電子顕微鏡(SEM)用高圧電源 HMBシリーズは、走査型電子顕微鏡(SEM)の電子銃用高圧電源です。加速電圧、引出電圧、フィラメントが一体となったフローティング出力、低リップルタイプの高...
* : Multi Vision Metrology Scanning Electron Microscop(e 多次元観察・測長走査型電子顕微鏡) 測定対象 ● シリコン・ウエハ ● アルチック・ウエハ ● クォーツ・ウエハ ● シリコンカーバイド・ウエハ * Wafer Sizeは150mm～300mm搬送可(要相談) 先進の電子光学カラム設計 独自の...
Verios 5 XHR走査電子顕微鏡 Verios 5 XHR SEMでは、1 keV～30 keVの全エネルギー範囲でサブナノメートルの分解能が確保され、優れた材料コントラストが得られます。これまでにないレベルの自動化と使いやすさにより、あらゆる経験レベルのユーザーがこの性能を利用できます...
E3630は、高性能のCD-SEM(測長走査型電子顕微鏡)の機能に加えて、ナノメートル領域の3D計測や3D観察を、試料を破壊することなくリアルタイムで実現できます。高精度解析や3次元解析を必要とする各種プロセス開発および生産の大幅な TAT (Turn Around Time) 短縮に貢献します。
実体顕微鏡とズーム顕微鏡 FIB-SEM FE-SEM C-SEM Xradia Versa Xradia Ultra Xradia Context サポート よくあるご質問 お問い合わせ先 販売終了製品 お問合せ ホーム 製品 SEMおよびFIB-SEM おすすめ検索項目 人気のある検索項目 走...
「NX2000」を発売 ―新設計の FIB/SEM 光学系を搭載し,高品位 TEM 試料作製をサポートします― 株式会社日立ハイテクノロジーズ(執行役社長:久田 眞佐男/以下,日立ハイテク)は,高 品位な透過電子顕微鏡(TEM)用試料作製を可能にした,FIB*1-SEM*2 複合装置/FIB-SEM-Ar/Xe*3 トリプルビーム...
電子顕微鏡の原理 https://www.jaima.or.jp/jp/analytical/basic/em/principle/ 走査電子顕微鏡(SEM)の原理と応用 https://www.jaima.or.jp/jp/analytical/basic/em/sem/ 88年の常識を覆す画期的な電子顕微鏡を開発 https://www.jst.go.jp/pr/announce/20190524/index.html 走査電子顕微鏡の原理と...
In this article, I introduce a history of technologies and backgrounds of the development of SEM to continuously improve the resolution, image contrast, and usability.%筆者は入社以来約30年にわたり、一貫して走査電子顕微鏡(SEM)の高性能化にかかわってきた。本稿では、筆者がかかわったSEM高性能...
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