答:能谱点扫,线扫和mapping分别是在点范围,线范围,和面范围内获得样品的元素半定量信息,除此之外,线扫和mapping还能分析元素在线或面范围内的分布情况。 它们的意义在于点扫可以测试材料某一位置的元素种类和含量,面扫(mapping)的意义主要在于了解材料元素的区域分布,线扫的意义在于了解材料一条线上各个点的元素含量...
答:就定量来说,SEM点分析比线分析和面分析更准确,扫描的方式不同,线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况(线分析是沿着某个界面的元素分布起伏,而面分析是看整个视场的元素分布情况),点分析可以基本定量分析元素。 EDS mapping时间就长的多了,尤其是如果想得到比较确定的数据的话,一个线扫就可以耗费半...
(2)金属断面形貌图及元素分布 (3)支架镀层银迁移 (4)金线疲劳断裂、熔断成球图 (5)支架镀层硫化、氯化 (6)ITO玻璃形貌观察 (7)氩离子截面抛光+SEM 扫描电镜测试,扫描电镜SEM,扫描电镜原理,扫描电镜与透射电镜区别,元素测试,形貌观察,SEM/EDS扫描电镜,能谱分析,形貌观察测试检测服务,扫描电镜 普通会员 广东金...
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