mapping就是扫描每个点,然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图,得到位置和这个元素峰的强度的关系,就反应每个位置特定元素的含量相对关系,分析深度和元素种类样品情况有关,大概在几个微米。 SEM和EDS SEM用于观察标本的表面结构,其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样品表面激发出次级电子,次级电子的多...
利用扫描电子显微镜(SEM)观察正极粉末颗粒的形貌,我们发现这些颗粒多为球状,而部分磷酸铁锂则呈现出棒状结构。这些棒状橄榄石晶体结构,长度在100-200纳米之间,直径则在5-10微米之间。通过SEM观察,我们可以判断材料的形貌结构,从而进一步研究形貌对电性能的改善是否有帮助。此外,利用元素分布映射(mapping)技术,我们还可以观...
主营商品:铁电分、镜质体、分析仪、电子鼻、研检测、bga检测、石墨烯、gpc测试、能测试、旋光仪、度测量、显微镜、测试仪、测薄膜、椭偏仪、光谱仪、碳酸根、比色仪、霍尔效应、磁电检测、介电测试、金属腐蚀、核磁检测、磁滞回线、红外光谱 进入店铺 全部商品 店...
大神，你能说清楚点吗？意思是mapping图只是表明元素分布的情况，其它的都不能从mapping图来得结论是吗...
扫描电镜检测服务包含1.表面形貌拍摄图片(主要是二次电子像与背散射电子像)2.EDS能谱分析与微区化学成分分析、元素分布等3.针对不导电,可喷金/喷碳/喷铂金;对需干燥样品,也可做干燥处理4.依照客户需求,可选择能谱定点扫描、线扫、mapping面扫服务收费5.样品需要破坏扫描:具备切片、抛光等辅助操作注:目前暂不接...
成分分析: SEM分析、红外光谱测试等 精度: 无说明 重量: 未明确 失效分析: PCB板、金属、元器件、材料失效分析等 可靠性测试: 高温低测试、恒温恒湿测试等 无损检测: 工业CT、X-RAY测试、超声波扫描等 价格说明 价格:商品在平台的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着...
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使用STEM (T-SEM) -EDS 对半导体 RAM 微芯片进行超高分辨的面分析采用X射线方法表征半导体纳米结构的元素分布图并不总是直截了当的。在研究半导体材料时,实现纳米尺度空间分辨率和X射线峰值重叠的解卷积是常见的挑战。有时,使用 SEM 进行...
这些棒状橄榄石晶体结构,长度在100-200纳米之间,直径则在5-10微米之间。通过SEM观察,我们可以判断材料的形貌结构,从而进一步研究形貌对电性能的改善是否有帮助。此外,利用元素分布映射(mapping)技术,我们还可以观察主成分元素的分布是否均匀。这些分析方法对于材料性能的研究和改进具有重要的指导作用。