SEM+EDS分析测试是一项材料表面分析技术,结合了扫描电子显微镜(SEM)和能量分散谱仪(EDS)两种设备。主要用于研究材料表面形貌和化学成分,已成为材料科学、地质学、生物学、环境科学等众多领域中不可或缺的分析工具。SEM+EDS分析测试能提供高分辨率的表面图像和准确的化学成分信息,有助于研究人员深入了解材料表面的结构和...
AES对表面元素的分析深度非常浅,通常只有几个纳米。 TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱):利用高能离子束轰击样品表面,产生的二次离子通过质谱仪进行分析,可以同时获得元素种类、同位素分布和分子结构信息。 二、分析特点 SEM-EDS 形貌与成分分析结合:既能观察样品的表面形貌,又...
SEM-EDS分析测试是一种材料表面分析技术，融合了扫描电子显微镜（SEM）和能量分散谱仪（EDS）两种工具。它主要用于探究材料表面的形态特征和化学成分，已经发展为材料科学、地质学、生物学、环境科学等领域不可或缺的分析方法。SEM-EDS测试技术可以呈现出高分辨率的表面图像和准确的化学成分信息，有助于研究人员深入了解...
客户提供异常样品,反馈Gate到Source极均短路异常,需进行失效分析。 对样品进行SEM 放大观察,Gate 极铝线未接触到Source 极,Gate 极发现有可疑异常点 SEM&EDS测试案例——按键 应客户要求,对产品的结构进行分析,用以确认产品失效状况。 发现镀层不均匀、致密性较差;焊接面IMC层厚度较低,焊接力较弱,容易导致SMT器件脱...
3)面分析:也称Mapping,用于分析扫描范围内,指定元素的分布情况,可显示材料中化学元素的面分布。测试效果如图18所示。 图18 面分析图例 从图18可以看出,通过对样品某一区域进行面扫,得到各元素的分布图。每种元素由不同的颜色代表,此区域内元素分别为C、O、Mg、Si 、P、Cl、Ca、Ti。
3）试样分析面平、一般要求垂直于入射电子束；4）试样尺寸大于X射线扩展范围；5）有良好的导电和导热性能；6）均质、无污染；无法满足上述要求的试样，定量结果准确度低。EDS是微区分析，定点分析区域是几个立方微米，一般不需要用大试样；粉末必须压片等，对于样品具体要求可咨询领先检测。相关标准：[1] GB/T ...
SEM-EDS分析测试是一种材料表面分析技术,融合了扫描电子显微镜(SEM)和能量分散谱仪(EDS)两种工具。它主要用于探究材料表面的形态特征和化学成分,已经发展为材料科学、地质学、生物学、环境科学等领域不可或缺的分析方法。SEM-EDS测试技术可以呈现出高分辨率的表面图像和准确的化学成分信息,有助于研究人员深入了解材料表...
SEM-EDS分析测试是一种材料表面分析技术,融合了扫描电子显微镜(SEM)和能量分散谱仪(EDS)两种工具。它主要用于探究材料表面的形态特征和化学成分,已经发展为材料科学、地质学、生物学、环境科学等领域不可或缺的分析方法。SEM-EDS测试技术可以呈现出高分辨率的表面图像和准确的化学成分信息,有助于研究人员深入了解材料表...
现在的SEM一般都与EDS组合,利用EDS进行元素成分定性、定量分析;可应用于材料高分辨成像、电子产品如PCB板/FPC、半导体,光电材料、通讯行业材料形貌/腐蚀/微污染分析,微区元素打点分析/特定元素沿深度方向的线扫描,元素的面分布。 扫描电子显微镜的原理是基于电子和物质之间的相互作用。当高能入射电子轰击物质表面时,激发...
采用ChemiSEM 技术的 SEM-EDS分析 Thermo Scientific ChemiSEM 技术使分析的易用性、便利性和速度向前跃进。它集成了较先进的元素分析与实时电子图像。在一个软件界面内,您可以: 从任何电子检测器上查看样品图像 查看样品表面上不同化学成分的区域 只需点击一下即可查看点和区域成分分析 ...