在这个案例中,我们展示了使用环形 XFlash® FlatQUAD EDS 探测器,在 SEM 中获取的半导体结构的高分辨率 EDS 图。XFlash® FlatQUAD的 4 个 SDD 环形排列整体具有对称性,测试时探测器位于在试样和 SEM 极片之间。测试条件为 20 kV...
扫描电子显微镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观扫描电子显微镜观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。它具有景深大、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高等特点。现在扫描电镜已广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的...
扫描电镜分析SEM和EDS 日立冷场高分辨率 所在地 广东省东莞市大岭山镇莞长路大岭山段495号2号楼203室 手机号 13925770151 联系人 周工请说明来自顺企网,优惠更多 让卖家联系我 产品详细介绍 广东省华南检测技术实验室扫描电镜测试: 扫描电镜利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品,通过光束与物质间的相互作用,来激发...
6.布鲁克XFlash6 EDS 能谱信息 1.探测器:硅漂移(SDD)电制冷探测器,采用场效应管(FET)一体化集成设计的高速SDD芯片,60mm2有效面积,超薄窗设计,独立真空; 2.能量分辨率:在100,000CPS条件下Mn Ka保证优于129eV,轻元素分辨率:C-K/57eV, F-K/67eV; 3.采用纤细化等技术,探测器探指直径不大于18.2mm,优化固...