商标名称 SEMAES 注册号 76569019 当前状态 已注册 商标类型 普通商标 类别 第11类 申请日期 2024-01-23 类似群 1101,1104,1105,1106,1107,1111,1112 商品/服务列表 1101-灯, 1104-台式烹饪炉, 1104-烹调用装置和设备, 1104-熏烤炉(烹饪设备),
商标名称 SEMAES 国际分类 第35类-广告销售 商标状态 商标注册申请 申请/注册号 17601871 申请日期 2015-08-05 申请人名称(中文) 苏州赛迈思国际贸易有限公司 申请人名称(英文) - 申请人地址(中文) 江苏省苏州市张家港市杨舍镇沙洲西路117号(华盛大厦)B1113 申请人地址(英文) - 初审公告期号 - 初审公告日期 ...
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。 3、XRD,英文全称:Diffractionofx-rays,中文称:X射线衍射。 4、AES,英文全称...
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1. 原子荧光光谱(AFS)的基本原理与应用 微信搜索小程序“科学10分钟”查看全文 原子荧光光谱法(AFS)是1964年以后发展起来的分析方法,是以原子在辐射能激发下发射的荧光强度进行定量分析的发射光谱分析法。本…
10 SEM,AES,SAM,PEEM 扫描电子显微镜(scanningelectronmicroscopy，SEM)电镜的发明者（1932）鲁斯卡（ErnstRuska，1906-1988）1986年获诺贝尔物理学奖 结构 如果样品是绝缘体会怎么样?绝缘体样品如何测量?俄歇电子能谱 AugerElectronSpectroscopy （AES）光电子能谱 光子电子 材料 光电子俄歇电子？EKhv Ef E1 E2 E3 E...
2024年01月31日 02:32 关注 自留:SEM-EDS和XPS分辨率 测试深度如图1 0 评论 UP主投稿的视频 热门评论(0) 按热度 请先登录后发表评论 (・ω・) 表情 发布 看看下面~来发评论吧打开App,查看更多精彩内容 浏览方式(推荐使用) 哔哩哔哩 你感兴趣的视频都在B站 打开...
AFM，原子力显微镜，则是用于观察样品表面的形貌。通过针尖与样品表面间的原子间相互作用力成像，无需真空环境，适用于多种样品。每种技术都有其独特的优势和适用范围，SEM和TEM常用于观察材料的微观和超微观结构，XRD用于物相分析，AES分析元素浓度分布，STM和AFM则分别用于观察原子级分辨率的表面形貌。
XPS、SEM-EDS、AES、TOF-SIMS四种表面分析技术的特点和区分XPS、SEM-EDS、AES、TOF-SIMS四种表面分析技术的特点和区...小夕彼编辑于 2024年01月31日 02:32 自留:SEM-EDS和XPS分辨率 测试深度如图 分享至 投诉或建议评论 赞与转发0 0 1 0 0 回到旧版 顶部登录哔哩哔哩,高清视频免费看! 更多登录后权益等...
转化膜MoS_膜耐磨寿命化学转化润滑特性摩擦系数真空溅射膜擦涂衍射峰作者在验证Brophy的化学转化MoS_2膜工艺的基础上对该法作了改进,确定了转化的最佳条件,制得了较厚的膜,其耐磨寿命大为延长。该膜经X—线衍射和电子探针分析表咐,其主要成分为无定型的MoS_3,经真空加热后其主要成分转变为MoS_(2.4),摩擦系数可...