二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>> ...
大景深,成像富有立体感。广告 超导量子计算选择国仪量子,业界先进分析性能! SEM3100高性能的扫描电子显微镜,拥有超高的分辨率和出色的成像质量。大景深,成像富有立体感。广告 SEM-EDX在文章中怎么翻译 SEM-EDX 分析 借助扫描电镜和X-射线能谱分析(SEM-EDX)的方法,研究了加硅营养液中培养的高羊茅草,对褐斑病和腐霉...
应该是景深吧``焦深计算公式 L= ±[(r/M)-d]/2α 其中：L: 焦深 r: 显像管最小分辨距离 M：放大倍数 d：入射电子束直径 2α：物镜孔径角。从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。物镜孔径角与工作距离和入射电子束直径有关。由于r（显像管的分辨率）和2α都是未知数，...
5000倍下为11.4微米。10000倍下为5.4微米。超过100000倍已经超过了有效放大倍率。不能计算。
请问下,SEM/EDX在测表面元素的时候,测得多深.有文献不? 扫码下载作业帮搜索答疑一搜即得 答案解析 查看更多优质解析 解答一 举报 你可以用XPS(X射线光电能谱仪),当 X射线与样品相互作用后 ,激发出某个能级上的电子 ,测量这一电子的动能 ,可以得到样品中有关的电子结构信息 ,这就是XPS方法的最简单描述.XPS...
背散射电子来自样品较深区域，其图像显示出原子序数的敏感性；原子序数越高，图像区域越亮。二次电子来自表面区域，能反映更详细的表面信息。通过分析样品发出的X射线能量，能谱分析（EDX或EDS）技术能够识别样品中所包含的所有不同元素，提供快速的化学成分信息。EDX分析基于电子束轰击原子内层，激发出基态...
请问下，SEM/EDX在测表面元素的时候，测得多深。有文献不？？
当然,EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法,并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。 电子能量损失光谱(EELS)只能在以扫描透射电镜(STEM)模式工作的透射电镜(TEM)系统中实现,并能够反应材料的原子和化学...
——这里简单描述形貌,尺寸,前后变化,这说明了什么,分析一下为什么是这种变化(结合其他相关文献以及你研究的背后机理原因)。 当然还有元素EDX mapping图:可以说明你做的样品里面确实有这些元素,你成功合成了该样品,且元素分布均匀,故样品合成的很好。 也可以前后对比,更能说明F元素成功掺杂进去了,且从mapping图可以看到...
紫外分光光度法测定苯甲酸,semedx分析 万博检测——大型科研型分析检测机构!!! 万博检测:实验室已获得CNAS、CMA资质认证! 检测服务:提供分析、检测、测试、研发、鉴定等技术服务。 无锡万博检测技术专注分析、检测、测试、鉴定、研发五大服务领域。公司人员坚持秉承母校博学、笃行的理念,以严谨、求实的工作态度服务企业...