mapping不是扫一次,几分钟后出结果,而是从上到下一遍一遍一直扫,会根据反馈的信号,呈现每一次扫到的该元素,随着时间的增长,这些点越来越多,形成一个可以大体描述分布的面。 6、SEM-EDS测试轻元素为什么不准? 轻元素主要包括Be、B、C、N、O和F(H、He、Li测不了),其特征X射线能量很低,低能量x射线容易被基底...
C是一个特例,碳常常在电子显微镜中,作为污染物,被电子束诱导沉积样品表面,这造成可靠测试样品中C元素,变得非常困难,因为不知道C来自样品本身还是在分析过程中沉积的。为了满足对轻元素定量,EDS有四个选项。•直接分析法•化学计量学理论配比计算法•元素差异法•固定浓度法直接分析法最简单的操作是将轻元素和...
6、SEM-EDS测试轻元素为什么不准?轻元素主要包括Be、B、C、N、O和F(H、He、Li测不了),其特征X射线能量很低,低能量x射线容易被基底吸收,根据统计原理进行的定量分析将更加困难。 7、为什么画框点扫的含量和XRF测试的有差距?采样深度不同,XPS采样深度为2-5nm,EDS采样深度大约1um。 8、不导电样品应该怎么...
原子序数越大的区域产生的背散射信号越强，因此可以观察到不同元素之间的成分对比。
有以下几种可能:①样品喷过金,峰是金峰;②可能是样品里面其他元素未关注的峰;③也可能是引入了杂质(可能性较小)。 EDS为什么一个元素会对应多个峰位? 核外电子跃迁类型不同,或者说满足跃迁选律(指电子层KLMN)的不止一种,每一种跃迁类型对应不同的能量。 有哪些材料一定需要喷金呢? 不清楚导电性的样品,没有...
第二,能谱有一定的穿透性,表面没有该元素,但是往下一定厚度时,会形成噪点。 第三,样品稳定性,在打mapping时,电子束打在样品表面,一次mapping扫描时间在3min以上,如果是高倍,样品微米级的震动都会产生很明显的误差。 Q5: SEM-EDS测试轻元素为什么不准?
第二,能谱有一定的穿透性,表面没有该元素,但是往下一定厚度时,会形成噪点。 第三,样品稳定性,在打mapping时,电子束打在样品表面,一次mapping扫描时间在3min以上,如果是高倍,样品微米级的震动都会产生很明显的误差。 Q6: SEM-EDS测试轻元素为什么不准?
Q6: SEM-EDS测试轻元素为什么不准？轻元素主要包括Be、B、C、N、O和F（H、He、Li测不了），其...