▶扫描电镜(SEM)+能谱仪(EDS)测试需求1有不良来料时需要对样品进行形貌观察和表面元素分析,确认不良类型。2有不同批次来料时可以用EDS对新物料和原物料进行元素比对分析,确认新物料是否可投入生产。3产品测试接触不良时可以用EDS对接触不良位置进行扫描观察和元素分析,确认是否是由于异物或者表面磨损造成的不良。4...
EDS图像上的参数如何看?以图15为例,左边图为SEM测试微区范围,“EDS1”区域名称对应右边谱图中右上角的图例,表示该谱图为“EDS1”区域的谱图结果。横坐标表示X射线光子计数/cps,纵坐标表示X射线能量/keV。峰上标注为该峰对应的具体的元素符号Cu。 图16 点分析图例-2 (注1:EDS测试时,对于能量较低的、原子...
ChemiSEM 图像显示了在应用 Thermo Scientific ChemiSEM 之前和之后放大至 50 微米的镍、铜和锌颗粒。 EDS分析 EDS分析(能量色散 X 射线光谱,也称为 EDX 分析)是一项研究微米级化学成分的强大技术。通过结合扫描电镜 (SEM),EDS 从用电子束扫描样品时发射的 X 射线中获得组分信息。EDS分析技术可以检测的元素范围...
对产品的故障分析也越来越深入,对机件关键材料的失效原因分析,吸引着广大航空维修工作者研究,扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱仪(EDS)是当前材料分析领域较为常见的两种分析设备,基本上是组合使用的,功能非常强大,既能观察样品表面形貌又能对微分区进行成分分析。
ChemiSEM 图像显示了在应用 Thermo Scientific ChemiSEM 之前和之后放大至 50 微米的镍、铜和锌颗粒。 EDS分析 EDS分析(能量色散 X 射线光谱,也称为 EDX 分析)是一项研究微米级化学成分的强大技术。通过结合扫描电镜 (SEM),EDS 从用电子束扫描样品时发射的 X 射线中获得组分信息。EDS分析...
1. EDS应用范围 1)点分析:检测材料中微区的化学成份,是最常用的方式。测试效果如图15、16所示。EDS图像上的参数如何看?以图15为例,左边图为SEM测试微区范围,“EDS1”区域名称对应右边谱图中右上角的图例,表示该谱图为“EDS1”区域的谱图结果。横坐标表示X射线光子计数/cps,纵坐标表示X射线能量/keV。
氩离子抛光技术是对样品表面进行抛光,去除损伤层,从而得到高质量样品,用于在 SEM,光镜或者扫描探针显微镜上进行成像、EDS、EBSD、CL、EBIC 或其它分析。 透射电镜TEM 1 样品要求 样品被观察区对入射电子必须是“透明”的。电子穿透样品的能力与其本身能量及样品...
应用:EDS常常与SEM结合使用,可以在观察样品形貌的同时,对其进行化学成分的分析。在电池正极粉末颗粒的研究中,EDS可以帮助我们了解颗粒中各种元素的分布和比例。“能谱mapping”就是EDS的一种应用方式。它通过对样品表面不同位置的元素进行分析,然后将这些信息以图像的形式展示出来,从而得到元素在样品表面的分布图。
c. 使用手动操作板上的两个消像散旋钮,缓慢转动它们,以消除图像的模糊边缘。这种方法也是一种有效的手动调整方式,可以在没有自动消像散功能的电镜中使用。 每种方法都可以有效地调整像散,选择哪种方法取决于操作者的偏好和具体的仪器配置。 5.EDS操作
可以分析来自样品的X射线,进行微区元素分析(需要EDS或WDS探测器),也可以研究半导体的光电特性(需要阴极荧光CL探测器),还可以观察晶体材料的晶粒取向或晶体取向图,同时研究平面样品中的异质性和微应变等相关信息(需要EBSD探测器)。 图4 SEM上可安装的各种附件...