能量色散X射线光谱分析(EDS)是扫描电子显微镜(SEM)中最常用的功能之一。大多数扫描电镜都配备了能谱仪,这使得用户能够对样品进行微区域的成分分析。能谱仪通过检测样品发射的X射线来工作,不同元素的X射线具有独特的特征能量。谱仪根据这些能量展开谱图,其中横坐标代表特征能量,不同元素的谱峰出现在特定的位置。纵坐...
上海硅酸盐研究所的李香庭教授对SEM和电子探针的EDS分析结果做过比较系统的讲述,我摘抄如下:EDS分析的最低含量是0.x%(注:这个x是因元素不同而有所变化的。)“电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则”国家标准,规定了EDS的定量分析的允许误差(不包括含超轻元素的试样)。对平坦的无水、致密、稳定和导电良好的...
检测类型 成分分析 检测项目 能谱 要求 委托单填写 确认 报价单确认 样品 尺寸大小材质 测试周期 3-5个工作日 在线时间 8:0-18:00 加急周期 1-3个工作日 可售卖地 北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川...
使用SEM&EDS观察微观粒子形貌并做成分分析: 使用SEM观察表面镀层开裂形貌、观察不同材料断口微观特征形态及成分 检测项目执行标准: JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则 GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析 GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则 北测优势: 我们配备专业的人员进行操作,更...
SEM-EDS即通过将扫描电子显微镜(SEM)和能谱(EDS)组合在一起,是一种对药物或材料等成分进行分析的组合检测设备。 扫描电镜(SEM)是由聚焦电子束在试样的表面逐点扫描成像。高能量的电子与所分析的试样物质相互作用,在样品表面激发出次级电子,次级电子所获得各种信息的二维强度和分布与试样的表面形貌,晶体取向以及表面...
结合SEM表征,能够分析材料内部的形貌如是否含有裂纹、气孔、孔隙等。将这些技术结合使用,可以对负极材料进行孔洞分析。首先,使用SEM扫描电镜可以观察负极材料表面的形貌和结构特征。然后,使用EDS能谱仪可以确定负极材料中存在的元素种类和含量,从而了解材料的组成情况。最后,使用离子研磨CP制备截面样品,通过SEM观察和...
SEM/EDS介绍 扫描电子显微镜(SEM)是用细聚焦的高能电子束轰击试样表面,通过电子与试样相互作用产生的二次电子、背散射电子信息对试样表面或断口进行微区形貌及结构的观察 。现在的SEM一般都与EDS组合,利用EDS进行元素成分定性、定量分析;可应用于材料高分辨成像、电子产品如PCB板/FPC、半导体,光电材料、通讯行业材料形貌...
在多数的定量分析中,最重要的考虑是吸收因子 Ai,显然合理的选择扫描电镜的工作条件和质量吸收系数小的X射线(过压比小的X射线线系,从K-L-M,过压比逐渐增大?)有助于减小必要的修正。 原子序数因子Z: 所谓的原子序数效应:背散射电子和电子衰减。他们都与靶中的平均原子序数有关。如果样品和标样的平均原子序数不同...
扫描电子显微镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观扫描电子显微镜观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。它具有景深大、放大倍数可调范围宽、图像的分辨率高等特点。现在扫描电镜已广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、医学、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的...
在多数的定量分析中,最重要的考虑是吸收因子 Ai,显然合理的选择扫描电镜的工作条件和质量吸收系数小的X射线(过压比小的X射线线系,从K-L-M,过压比逐渐增大?)有助于减小必要的修正。 原子序数因子Z: 所谓的原子序数效应:背散射电子和电子衰减。他们都与靶中的平均原子序数有关。如果样品和标样的平均原子序数不同...