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方法:使用形貌分析软件,如Nano Measurer、ImageJ等;选择合适的分析方法和参数,以获得可靠结果。 4. 元素分布分析:结合EDS(能量色散X射线光谱仪)数据进行元素分布分析。 方法:使用EDS分析软件,如AZtec、INCA等;确保EDS数据校正准确,避免分析误差。 场发射SEM图像处理是获取高质量图像和准确数据分析的关键;掌握对比度、...
金相组织一一直接使用金相试样,但可以浸蚀深些; ——— 第一、扫描电镜照片是灰度图像,分为二次电子像和背散射电子像, 主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观 察。 一般二次电子像主要反映样品微区表面形貌, 基本和自然光 反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。 背散射电子像主要反映样品表面凹凸情况, 越亮...
首先，对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除、对比度增强、图像锐化等。例如，噪声去除可以通过滤波器实现，以减少图像中的随机噪声，使图像更加平滑；对比度增强可以突出图像中的特定特征，使其更易于观察和分析。2. 图像...
扫描电镜实验报告图像分析怎么写 一、引言 扫描电镜(Scanning Electron Microscope, SEM)是一种常用的高分辨率表面形貌分析仪器,广泛应用于材料科学、生物学、纳米科技等领域。本实验旨在利用扫描电镜对样品进行观察和分析,掌握图像分析技巧,并结合实际图像进行详细分析,从而深入了解样品的表面形貌和微观结构。 二、实验方法...
图7 不同电压下SEM图像与不同光照强度下的毛玻璃 3.2 SSD探测器中的图像解释 对于多分割的SSDBSD背散射电子探测器,由于被分割成很多分区,如果用来单独成像,每个分区都可以视作一个独立的照明光源,也可以使用光路可逆原理进行分析,如图8的微柱所示。如果外侧分区全开,就如手术台上的无影灯,使得洞中特征无所遁形;如...
SEM图像的解读-2 衬度 前言 样品在微观上存在形貌、成分、导电性和晶体学取向特征,如形态学尺寸、不同的元素成分、不同导电性以及不同的晶粒取向等,它们会导致信号电子产额和分布的不同,这在专栏5中从原理和微观层面已经论及。在扫描电镜的黑白图像中,这些差别会表现为不同区域明暗(灰度)不同,即存在灰度值的对...
实验一：湿法薄膜；实验机：FEI Nova NanoSEM 450。样品来源：首字母N的公司产品；难点要点：还原“主筋”上的骨节并保护最细的拉丝。↑ 不开减速的情况下，由于荷电和边缘效应，样品立体感消失，因此该条件不适合作为观察条件L。但是由于着陆电压低，细丝得到较好保护。↑ 减速1.5kV下，荷电和边缘效应得到改善，...
01.断口分析 1.沿晶断口 上图为普通的沿晶断裂断口照片。因为靠近二次电子检测器的断裂面亮度大，背面则暗，故断口呈冰糖块状或石块状。含Cr、Mo的合金钢产生回火脆时发生沿晶断裂，一般认为其原因是S、P等有害杂质元素在警戒上偏聚使晶界强度降低，从而导致沿晶断裂。沿晶断裂属于脆性断裂，断口上无塑性变形...
利用原子序数衬度来分析晶界上或晶粒内部不同种类的析出相是十分有效的。因为析出相成分不同，激发出的背散射电子数量也不同，致使扫描电子显微图像上出现亮度上的差别。从亮度上的差别，我们就可根据样品的原始资料定性地判定析出物相的类型。二、吸收电子的成像吸收电子的产额与背散射电子相反；样品的原子序数越小，...