ZEISS SmartSEMは、ZEISS電子顕微鏡用の操作システムです。顕微鏡の高度な設定を可能にするとともに、困難な課題も解決します。あらゆる操作パラメータを完全に制御するためにご使用ください。GUIの操作モードは、ユーザーのレベルに応じて、フルコントロール、または時々使うユーザーのために開発...
走査型電子顕微鏡 試料のトポグラフィーおよび組成に関する情報を取得 集束イオンビーム搭載走査型電子顕微鏡 ナノトモグラフィーとナノファブリケーションのアプリケーションをスピードアップ。 ZEISS Microscopyへのお問い合わせ アップグレード/修理・改造 トレーニング ソフトウェ...
Verios 5 XHR走査電子顕微鏡 Verios 5 XHR SEMでは、1 keV～30 keVの全エネルギー範囲でサブナノメートルの分解能が確保され、優れた材料コントラストが得られます。これまでにないレベルの自動化と使いやすさにより、あらゆる経験レベルのユーザーがこの性能を利用できます...
型号:走査型電子顕微鏡(SEM)用高圧電源HMB系列 品牌:日本松定电源[鹏控代理] 产品说明 HMBシリーズ 走査型電子顕微鏡(SEM)用高圧電源 HMBシリーズは、走査型電子顕微鏡(SEM)の電子銃用高圧電源です。加速電圧、引出電圧、フィラメントが一体となったフローティング出力、低リップルタイプの高性...
Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB(PFIB)デュアルビーム(集束イオンビーム走査電子顕微鏡、またはFIB-SEM)は、材料科学や半導体アプリケーションに比類のない機能を提供します。材料科学研究者に、Helios 5 PFIBデュアルビームは大容量の3D解析、ガリウムフリーの試料作製、精密な...
In this article, I introduce a history of technologies and backgrounds of the development of SEM to continuously improve the resolution, image contrast, and usability.%筆者は入社以来約30年にわたり、一貫して走査電子顕微鏡(SEM)の高性能化にかかわってきた。本稿では、筆者がかかわったSEM高性能...
E3630は、高性能のCD-SEM(測長走査型電子顕微鏡)の機能に加えて、ナノメートル領域の3D計測や3D観察を、試料を破壊することなくリアルタイムで実現できます。高精度解析や3次元解析を必要とする各種プロセス開発および生産の大幅な TAT (Turn Around Time) 短縮に貢献します。
3. 〈ホップ?ステップ?ジャンプ〉走査電子顕微鏡の最先端応用例ーFIB-SEM複合装置を用いた3次元構造解析 [J] . 森川晃成 应用物理 . 2012,第6期 机译:<跳,步,跳>扫描电子显微镜的最新应用实例-使用FIB-SEM复合装置进行三维结构分析 4. FIB-SEM再構築構造を用いたSOFC燃料極の三次元数値シミュ...
日新胶带碳导电双面胶..日新イーエム株式会社,NISSHIN EM CO.,LTD,営業品目:電子顕微鏡試料作製用材料および器具の販売,解剖実習室関連用品の販売,研究室環境改善用品の販売,ダイヤモンドナイフ・カーボン両面テー
「NX2000」を発売 ―新設計の FIB/SEM 光学系を搭載し,高品位 TEM 試料作製をサポートします― 株式会社日立ハイテクノロジーズ(執行役社長:久田 眞佐男/以下,日立ハイテク)は,高 品位な透過電子顕微鏡(TEM)用試料作製を可能にした,FIB*1-SEM*2 複合装置/FIB-SEM-Ar/Xe*3 トリプルビーム...