1、什么是SCLC: 半导体基本特性的准确表征对于电子和光电器件的发展至关重要。在各种可用的电荷输运表征技术中,空间电荷限制电流(SCLC)测量是最常用的稳态技术之一。通过测量电流密度-电压(J-V)特性,可以研究电子和空穴的输运和注入特性,而无需光照来产生电荷载流子。在该测量过程中,电流注入被用作研究半导体带隙中的缺陷态和电荷载流子迁移率的探
我 们利用空间电荷限制电流(SCLC)技术测试了单电子/空穴器件(FTO/TiO2/钙钛矿/PCBM/Ag 和 FTO/PEDOT:PSS/perovskite/Spiro-OMeTAD/Au)的电子和空穴缺陷态密度。 以空穴缺陷态密度为例: 导入测试数据, 删除J (mA/cm^2)列,I列除以1000,将单位换算为A,绘制点线图,设置横纵坐标为log 10。美化图形,作切线,...
import pandas as pd # 假设df是加载的SCLC数据DataFrame df = pd.read_csv('sclc_data.csv') # 处理缺失值 df.fillna(method='ffill', inplace=True) # 前向填充缺失值 # 处理异常值 # 假设我们有一个列'raw_var',期望其为日期格式 df['raw_var'] = pd.to_datetime(df['raw_var'], errors='...
利用SCLC技术，我们测试了FTO/TiO2/钙钛矿/PCBM/Ag和FTO/PEDOT:PSS/perovskite/Spiro-OMeTAD/Au器件，以空穴缺陷态密度为例，公式中VTFL是陷阱填充极限的起始电压，e是基本电荷，L是活性层的厚度，ε是钙钛矿的相对介电常数，ε0是真空介电常数。陷阱填充限制电压越低，意味着薄膜内的缺陷密度浓度降低，...
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