如下图所示:左边是普通寄存器,右边是可扫描寄存器,D端前面加一个二选一的MUX,选择端是scan_enable,为1时选择SI端,为0时选择D端。 如下图所示:把所有可扫描寄存器首尾连接在一起,就构成了扫描链。注意,增加了三个端口,分别是SI(scan out),SO(scan out)和SE(scan enable)。 综上所述:scan就是把普通寄存器...
把可扫描的寄存器连成扫描链 如下图所示:左边是普通寄存器,右边是可扫描寄存器,D端前面加一个二选一的MUX,选择端是scan_enable,为1时选择SI端,为0时选择D端。 如下图所示:把所有可扫描寄存器首尾连接在一起,就构成了扫描链。注意,增加了三个端口,分别是SI(scan out),SO(scan out)和SE(scan enable)。 综...
如下图所示:左边是普通寄存器,右边是可扫描寄存器,D端前面加一个二选一的MUX,选择端是scan_enable,为1时选择SI端,为0时选择D端。 如下图所示:把所有可扫描寄存器首尾连接在一起,就构成了扫描链。注意,增加了三个端口,分别是SI(scan out),SO(scan out)和SE(scan enable)。 综上所述:scan就是把普通寄存器...
输入:模拟到数字的信号不可控,需要和数字registered outputs mux一下提高test coverage。关键词是registered output! 这个技巧俗称scan loopback。 输出: scan的时候不希望模拟控制信号频繁上下跳动,要求把数字到模拟的输出置为static loworhigh。注意:有的模拟模块在scan的时候要求一直enable,对应的enable控制信号在scan时...
输入:模拟到数字的信号不可控,需要和数字registered outputs mux一下提高test coverage。关键词是registered output! 这个技巧俗称scan loopback。 输出:scan的时候不希望模拟控制信号频繁上下跳动,要求把数字到模拟的输出置为static low or high。注意:有的模拟模块在scan的时候要求一直enable,对应的enable控制信号在scan...
把可扫描的寄存器连成扫描链 如下图所示：左边是普通寄存器，右边是可扫描寄存器，D端前面加一个二选一的MUX，选择端是scan_enable，为1时选择SI端，为0时选择D端。如下图所示：把所有可扫描寄存器首尾连接在一起，就构成了扫描链。注意，增加了三个端口，分别是SI(scan out)，SO(scan out)和SE(...
芯片可以看做是大量寄存器和寄存器之间组合逻辑的一个大集合,将寄存器转化称为可以控制和可以观测的SCAN寄存器(如下图所示,就是加了一个mux,可以选通),并将这些SCAN寄存器单元可以连接成一个或多个移位寄存器链(SCAN Chain)。SCAN测试就是基于这些SCAN Chain以及结构测试向量,完成芯片逻辑测试的一种技术。 原图CSDN影...
scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此时数据通路如下图蓝色粗线所示: ...
scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此时数据通路如下图蓝色粗线所示: ...
scan replacement - 将normal DFF替换为mux gate DFF scan stitching - 将DFF连接起来 scan的作用:将测试困难的时序逻辑转变为易于测试的组合逻辑 scanc测试过程:包含对于组合逻辑测试和时序逻辑测试两个过程,对于时序逻辑进行测试就是对于scan chain进行测试 时序逻辑测试 1.切换到scan mode(scan enable拉高) 2.scan...