RTS-8型四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法 标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的, 于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的 仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到...
RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。 仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到...
将四根排成一条直线的探针以一定的压力垂直地压在被测样品表面上,在 1、4 探针间通以电流 I(mA),2、3 探针间就产生一定的电压 V(mV)(如图1)。测量此电压并根据测量方式和样品的尺寸不同,可分别按以下公式计算样品的电阻率、方块电阻、电阻: ①. 薄圆片(厚度≤4mm)电阻率: F(D/S)╳F(W/S)╳W╳F...
金属测量:金属具有良好的导电性,RTS-8型测试仪可以通过四探针法准确测量其电导率,从而了解金属的电学性能。 玻璃测量:普通玻璃通常是绝缘体或导电性极差,使用RTS-8型测试仪测量时,可能需要特殊的设置或条件。若玻璃经过特殊处理(如镀膜、掺杂等)而具有了一定的导电性,则可以使用该测试仪进行测量。 因此,RTS-8型四...
S-2C型测试台: 4kg; 2.11 标准使用环境 温度::23±2℃; 相对湿度:≤65%; 无高频干扰; 无强光直射; *.注意:使用1μA量程时,允许有小于1.0nA的空载电流.最好在相对湿度小于50%时使用。 3.测量原理 将四根排成一条直线的探针以一定的压力垂直地压在被测样品表面上,在 1、4 探针间通以电流 I(mA),2...
Ø RTS-8型四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序,通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。 Ø 测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据,把采集到的数据在计算机中加以分析,然后把测试数据以表格,图形直观地记录、显示出来。用户可对...
RTS-8型四探针测试仪 基本指标: 间距:1±0.01mm; 针间绝缘电阻:≥1000MΩ; 机械游移率:≤0.3%; 探针:碳化钨或高速钢Ф0.5mm; 探针压力:5～16牛顿(总力); 仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的仪器。 RTS-8型四探针测试仪采用...
4 一 I - i” RTS-8 I叮活节小气札牛 i 1.概述 RTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测屈原理的多用途综合测护设备。该仪器按照单晶硅物理 测试方法国家标准并参考美国 A.S. T.M 标准而设计的,专用T测试半导体材料电阻率及方块电阻(沥层 电阻)的专用仪器。 仪器由主机、探针测试台、计算机等部分组成...
RTS-8型四探针测试仪用户手册 下载积分: 800 内容提示: RTS-8 - 1 - 概述 ...1 技术指标 ...1 测量原理简介 ...2 仪器面板说明 ...4 使用方法 ...6 关于低阻测量 ...8 关于高阻测量 ...8 感谢您使用我们的产品! 如您是首次使用本仪器,请先详读本说明书,并妥善保留之以备查阅之用。 如有...