步骤2.校正后的光谱可进行平滑处理来去除实验过程中的干扰(即毛刺),步骤为数据处理--平滑,选择适当的平滑点数去除毛刺即可,太大容易失真。点击上方倒三角出现两个数据,即基线校正曲线和基线校正+平滑曲线,我们点击基线校正+平滑曲线进行保存,保存2种格式SPA格式和CSV格式,其中CSV为文本的表格数据,可进行后续的Origin作图。
本文将介绍红外光谱（FTIR）和拉曼光谱（Raman）的数据处理技巧，重点是基线校正和平滑曲线的处理方法。通过专业软件OMNIC，我们可以让光谱图变得更加清晰和易读。首先，使用OMNIC打开实验数据SPA文件，选中数据后，进入基线校正步骤。操作时，从曲线的起始点开始，点击后会显示一条基线。接着，通过鼠标左键拖动...
-Origin分析FTIR和Raman数据-如何进行基线校正 发布于 2022-05-08 21:30 · 1894 次播放 赞同添加评论 分享收藏喜欢 举报 Origin AccessOrigin(函数绘图软件) 写下你的评论... 还没有评论,发表第一个评论吧 相关推荐 14:51 瓦努阿图(荒岛版)第6集:荒岛挑战48小时!零距离同游濒危儒...
FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等 Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。 CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及可以得到直流偏压 EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联...
FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等 Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压 EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，...
以高纯石墨为靶材, CF4和H2为源气体, p型Si片为基片, 在不同功率下, 利用磁控溅射方法制备了a-C∶F薄膜样品, 并进行了不同温度的退火处理。采用Raman谱、FTIR谱和AFM对薄膜的结构及表面形貌进行了表征, 结合Lorentzian谱峰解叠方法研究了薄膜的结构随溅射功率和退火温度的关系。研究发现, 退火前后, 薄膜表面颗...
FTIR和Raman光谱技术的进展 ＦＴＩＲ和Ｒａｍａｎ光谱技术的进展 李琼瑶 （公安部物证鉴定中Ｇ北京１０００３８）摘要本文报道了傅里叶变接虹外光谱、傅里叶变换拉王光谱、虹外显靛镜和显擞拉王光谱技求的特点与进展。关■调傅里叶变换虹外光｛．（Ｐ｝ｌＲ）、傅里叶变换拉曼光谱、虹外卫擞镜、显擞扯王光．...
第14节- Origin分析FTIR和Raman数据-如何进行基线校正 第15节- Origin分析UV-Vis数据-如何用Tauc曲线计算带隙 第16节- Origin分析XPS数据-Ag3d的XPS峰值反褶积 第17节- Origin分析XRD数据-求曲线面积和FWHM 第18节- Origin分析XRD数据...
结果表明水热条件下可以成功地实现碳纳米管的表面修饰, 而且, 通过控制反应条件可以改变反应产物中官能团的种类和数量。主题词 碳纳米管; FTIR 光谱; Raman 光谱; XPS 光谱中图分类号: TB383 文献标识码: A 文章编号: 1000-0593( 2005) 10-1595-04 收稿日期: 2004-05-25, 修订日期: 2004- 11-20 基金...
SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等 Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。 CV:CV曲线可以测试得到很多信息,...