布鲁克新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash® 6探测器系列,探测器的有效面积为 10 至 100 mm2。 第6 代 EDS 提供硬件和软件技术,以实现最快、最可靠的结果: 节省时间 - 拥有细管径技术的新型探测器、大面积硅漂移探测器、可控制多个探测器以及具有高性能的脉冲处理器,更快地完成工作 节省工作量 - 电动马达控制...
布鲁克 EDS能谱仪SEM TEM Quantax XFlash系列 在线询价 进入商铺 同类产品 布鲁克 EDS能谱仪SEM TEM Quantax XFlash系列发布时间:2025/4/8 6:35:27 关注度:577 产品详情 适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS,几何构型确保了*优的信号采集角和检出角 全面的K、L、M 和N 线系...
布鲁克 EDS能谱仪SEM TEM Quantax XFlash系列品牌:德国布鲁克型号: EDSSEMTEMQuantaxXFlash产地:欧洲 德国供应商报价:面议深圳市科时达电子科技有限公司 更新时间:2025-04-21 06:35:07 销售范围售全国 入驻年限第4年 营业执照已审核同类产品分光光度计(29件)...
全面的K、L、M 和N 线系原子数据库,完美匹配低电压分析 可定制无窗探测器进一步提高低能端的检测性能 强大的混合脉冲处理器,可输出计数率为600kcps 易用而强大的ESPRIT软件,支持在线和离线数据分析 上一篇:日立UH4150紫外可见近红外分光光度计下一篇:BATOP太赫兹时域光谱仪THz-TDS1008 ...
XFlash® 7 EDS Detector Flyer Electron Microscope Analyzers Brochure Publications 2018 - Ultramicroscopy: Advanced microheater for in situ transmission electron microscopy; enabling unexplored analytical studies and extreme spatial stability 2016 - Microscopy & Microanalysis: Composition analysis with EDS; Po...
XFlash® FlatQUAD 探头是 QUANTAX FlatQUAD 系统的核心,可以置于SEM的极靴和样品之间,中间开孔作为电子束通过的路径。 探头由四个独立的SDD通道以环形方式排列,这种设计可以显著增大探头的立体角,具有比传统EDS更大的采集效率。 XFlash® FlatQuad使用不同厚度的聚合物薄膜来吸收背散射电子,同时使X-光光子可以透...
布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。 XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。 XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了...
采用X射线方法表征半导体纳米结构的元素分布图并不总是直截了当的。在研究半导体材料时,实现纳米尺度空间分辨率和X射线峰值重叠的解卷积是常见的挑战。有时,使用 SEM 进行表征而不是昂贵的 TEM ,不光节省经济成本还节省时间成本。 在这个案例中,我们展示了使用环形 XFlash® FlatQUAD EDS 探测器,在 SEM 中获取...
品牌:布鲁克 产地:德国 型号:Quantax XFlash系列 样本:来电或留言获取样本 布鲁克电子显微纳米分析仪器部 获取底价 在线客服 电话咨询 AI问答 布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM价格? 可以做哪些实验? 布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM参数? 配套的耗材试剂? 布鲁克 , EDS, 能谱仪, SEM, TEM操作规程?
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