布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash®7 能谱探头具有最大的采集立体角( Solid Angle) 和更高的输出计数率。 XFlash®7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。 XFlash®7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的...
使用TEM 的新一代XFlash® 7 EDS探头得到的结果 © Image and sample courtesy of Michael Malaki, Shamail Ahmed; Material Science center, Faculty of physics, Philipps University Marburg 使用EDS 分析锂电池阴极材料颗粒的包覆层 NCM阴极材料 (SSB 和 LIB) 的保留电容可以通过包覆层结构来改善。为控制这些...
布鲁克 EDS能谱仪SEM TEM Quantax XFlash系列 品牌:德国布鲁克 型号:EDSSEMTEMQuantaxXFlash 产地:欧洲 德国 供应商报价:面议 适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS,几何构型确保了ZY的信号采集角和检出角全面的K、L、M 和N 线系原子数据库,WM匹配低电压分析可定制无窗探测器进一步提高低能...
XFlash® FlatQuad使用不同厚度的聚合物薄膜来吸收背散射电子,同时使X-光光子可以透过。 为保证与不同型号SEM的兼容性,XFlash® FlatQuad可以在X,Y,Z三个方向进行精确调整。 将能谱分析带入更高的境界 XFlash® FlatQUAD探头的独特设计使Quantax FlatQUAD可以做到传统SEM EDS所无法完成的任务。 这让用户更...
5:点击校准(Calibration)键 6:点击采集(Acquire)键以对系统因子进行校准 然后不要改变电镜参数,有规律地重复校准 7 :移动未知样品至分析位置并点击采集(Acquire)键 8:点击定量(Quantify)键 9 :检查结果 标准样品数据库的维护 步骤 例子/提示 1:选择Databases(数据库)功能区域里的EDS(能谱) 如果用户的系统没有 ...
布鲁克Quantax 400能谱仪说明 QUANTAX能谱仪 用户手册 Version 1.0 1
QUANTAXEDSwithSlim-lineTechnologyforSEMandTEMEDSInnovationwithIntegrity杰出的电子显微镜X射线分析专家新一代的QUANTAX能谱仪采用先进的slim-line技术,并可搭载不同有效面积的XFlash®6探头。而且,依托于最新改进的超级数模双通道脉冲处理器,布鲁克又一次为能谱仪的操作性和功能性建立了新的标准。利用以上最新科技,...
布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash® 7 能谱探头具有最大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。 XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。 XFlash® 7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了...
TEM QUANTAX EDS XFlash® 7T - 纳米尺度上的彩色图像: 用于 TEM 和 SEM STEM 的 EDS 单原子与纳米结构 使每一台电子显微镜都能物尽其用 产品亮点 80 keV:业界领先检测能量范围,对所有元素进行精确的定性定量分析 3 TEM- 定量分析模型:基于理论和经验结合的 Cliff-Lorimer 因子以及Zeta- 因子修正的定量方法...
SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列 tel: 400-6699-117转1000 布鲁克电镜用X射线能谱仪EDS, 最新 EDS 探头系列,优化的设计 ,更好的分析,快速、精准、可靠 在线客服 SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列信息由布鲁克电子显微纳米分析仪器部为您提供,如您想了解更多关于SEM QUANTAX EDS...