布鲁克的最新一代 QUANTAX EDS XFlash®7 能谱探头具有最大的采集立体角( Solid Angle) 和更高的输出计数率。 XFlash®7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。 XFlash®7 探头还为 TEM 和 SEM 中可以透过电子的样品提供了优化的...
德国布鲁克 电子显微镜分析仪 TEM QUANTAX EDS 产品信息 产品特点 详细介绍 产品特点 XFlash® 7T - 纳米尺度上的彩色图像: 用于 TEM 和 SEM STEM 的 EDS 详细介绍 产品亮点: 80 keV 业界领先检测能量范围 对所有元素进行精确的定性定量分析 TEM- 定量分析模型 基于理论和经验结合的 Cliff-Lorimer 因子以及Zeta...
布鲁克的最 新一代 QUANTAX EDS XFlash® 7 能谱探头具有最 大的采集立体角 ( Solid Angle) 和更高的输出计数率。 XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准。
型号: EDSSEMTEMQuantaxXFlash产地:欧洲 德国供应商报价:面议深圳市科时达电子科技有限公司 更新时间:2025-04-21 06:35:07 销售范围售全国 入驻年限第4年 营业执照已审核同类产品分光光度计(29件)立即扫码咨询联系方式:0755-29852340 联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
适合不同电子显微镜极靴类型的的 EDS 细管径设计和优化的EDS,几何构型确保了最优的信号采集角和检出角全面的K、L、M 和N 线系原子数据库,完美匹配低电压分析可定制无窗探测器进一步提高低能端的检测性能强大的混合脉冲处理器,可输出计数率为600kcps易用而强大的ESPRIT软件。
XFlash® FlatQUAD 探头是 QUANTAX FlatQUAD 系统的核心,可以置于SEM的极靴和样品之间,中间开孔作为电子束通过的路径。 探头由四个独立的SDD通道以环形方式排列,这种设计可以显著增大探头的立体角,具有比传统EDS更大的采集效率。 XFlash® FlatQuad使用不同厚度的聚合物薄膜来吸收背散射电子,同时使X-光光子可以透...
ESPRIT 软件里,Databases/EDS 替换了原来的Standards;但其功能保 持不变)。EBSD包含了电子束背散射衍射的相关数据库,详情请参考 QUANTAX CrystAlign 用户手册。 ★ Spectra (图谱) 在不控制电子束的情况下,采集分析X射线图谱。这个功能区域同 样适合于分析已存储的图谱。 ★ Imaging (图像) 可独立于X射线谱仪进行...
7.运营成本低 8.免维护操作 9.小尺寸,包括 slim-line technology finger 10.重量低 二:布鲁克 QUANTAX 能谱仪推荐应用领域包括: 1.XFlash6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系统(焊接波纹管可作为选项使用) 2.将 EDS 和快速 EBSD 分析与eFlash FS 相结合 ...
EDS InnovationwithIntegrity 杰出的电子显微镜X射线分析专家 新一代的QUANTAX能谱仪采 用先进的slim-line技术,并可 搭载不同有效面积的XFlash ® 6 探头。而且,依托于最新改进的 超级数模双通道脉冲处理器, 布鲁克又一次为能谱仪的操作 性和功能性建立了新的标准。 利用以上最新科技,布鲁克第六 代电致冷能谱仪...
5:点击校准(Calibration)键 6:点击采集(Acquire)键以对系统因子进行校准 然后不要改变电镜参数,有规律地重复校准 7 :移动未知样品至分析位置并点击采集(Acquire)键 8:点击定量(Quantify)键 9 :检查结果 标准样品数据库的维护 步骤 例子/提示 1:选择Databases(数据库)功能区域里的EDS(能谱) 如果用户的系统没有 ...