《IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence》为计算机科学专业的中科院分区为一区TOP期刊,业界神刊,影响力非常大,并且期刊对国人比较友好。这里为大家汇总了一些该刊的相关信息和投稿经验,一起来看看吧。 投稿经验分享 分享一: 研究方向:人工智能 投稿结果:修改后录用 投稿时间节点: 2021年2月第...
《IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence》(Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence)是一本以工程技术-工程:电子与电气综合研究为特色的国际期刊。该刊由IEEE Computer Society出版商创刊于1979年,刊期Monthly。该刊已被国际重要权威数据库SCIE收录。期刊聚焦工程技术-工程...
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence, ISSN:0162-8828,是IEEE旗下的顶级期刊,属于月刊,现任主编是韩国首尔国立大学的Kyoung Mu Lee教授。 2、影响因子 IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence近5年影响因子持续上升,上升幅度很大,2022-2023年最新影响因子高为23.6,预计...
核心类别SCIE(2023版), 目次收录(知网),外文期刊, IF影响因子 自引率1.60% 主要研究方向计算机科学-COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE计算机:人工智能;ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:电子与电气 IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE《IEEE模式分析与机器智能汇刊》(月刊). ...
《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》是一本专注于COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE领域的English学术期刊,创刊于1979年,由IEEE Computer Society出版商出版,出版周期Monthly。该刊发文范围涵盖COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE等领域,旨在及时、准确、全面地报道国内外COMPUTER SC...
Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence创刊于1979年,由IEEE Computer Society出版商出版,收稿方向涵盖工程技术 - 工程:电子与电气全领域,在行业领域中学术影响力很大,属于TOP期刊,国际一流期刊,关注度和专业度非常高,所以对原创文章要求创新性很高,过审难度很高,如果您有志于TOP期刊,建议关注此...
And Machine Intelligence》(《IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence》)是一本由IEEE Computer Society出版的工程技术-工程:电子与电气学术刊物,该刊是国际一流期刊,主要刊载工程技术-工程:电子与电气相关领域研究成果与实践,旨在打造一种学术水平高、可读性强、具有全球影响力的学术期刊。本...
近日,AI顶级学术刊物IEEE T-PAMI(全称:IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)将特斯联科技集团首席科学家邵岭博士及其团队的五项科研突破收录其中。此次被收录的内容包括:物体检测与分割、图像恢复与增强、显著对象识别等细分方向的研究突破。IEEE T-PAMI刊发人工智能、计算机视觉、模式识别等多个...
SCIE期刊 学科领域:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE The IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence publishes articles on all traditional areas of computer vision and image understanding, all traditional areas of pattern analysis and recognition, and selected areas of machine in...