精密なナノメトロロジーにより材料と化学研究を 向上させ、深いナノスケールの洞察と分析を 可能にするPark AFM 半導体・ディスプレイ 自動化AFMソリューションによる、半導体アプリケーションにおける正確で繰り返し 測定可能なデバイスの製造と性能の向上 ...
AFM模式(*可选项) 标准成像 真正非接触式原子力显微镜PinPoint™ 原子力显微镜接触式原子力显微镜横向力显微镜(LFM)相位成像轻敲式原子力显微镜 力测量 力-距离(F/d)光谱力谱成像 介电/压电性能 静电力显微镜 (EFM)动态接触式静电力显微镜 (EFM-DC)压电力显微镜 (PFM)高压压电力显微镜* 机械性能 力调制显微镜 ...
Park原子力显微镜帕克 NX-Hivac 原子力显微镜Park NX-Hivac适用于.项目,参考多项行业标准https://siliconsemiconductor.net/article/107568/Advantages_Of_High_Vacuum_For_Electrical_Scanning_Probe。可以检测.等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 高真空对于电扫描探针显微镜的优势 ...
Park Systems Expands FX Large Sample AFM Lineup to Power Next-Gen Industrial Innovation Events More Tradeshow European CMP & WET Users Group Meeting 2025.04.09 - 2025.04.10 | Leuven, Belgium Webinar Full control and automation on point with next-gen Atomic Force Microscopy: Park Systems FX200 ...
2019年,在众多使用Park AFM发出研究成果论文的申请者中,以色列理工学院博士后惠飞博士在提及Park NX-Hivac的论文"Scanning probe microscopy for advanced nanoelectronics"被<<Nature Electronics>>收录,成为2019 Park AFM奖学金的第一位获得者。 Park NX-Hivac于2018年12月10日被首次引进广东以色列理工学院(GTIIT),惠...
以色列理工学院博士后惠飞博士在提及Park NX-Hivac的论文"Scanning probe microscopy for advanced nanoelectronics"被<<Nature Electronics>>收录,成为2019 Park AFM奖学金的第一位获得者。 王燕燕 天津大学纳米材料与技术研究中心研究团队研究员 1 王燕燕研究员通过使用Park NX10写出以“One-Step Fabrication of Ultralo...
/PRNewswire/ -- Park Systems, a global leader in atomic force microscopy (AFM), has unveiled an expanded FX Large Sample AFM series at SEMICON Korea 2025...
供应park NX10原子力显微镜 AFM 粗糙度检测 SPM探针 在线交易 粗糙度 赋宸芯科技(苏州)有限公司 1年 查看详情 ￥50.00万/台 Park帕克NX10 原子力显微镜AFM SPM探针 侧壁缺陷分析检测 在线交易 品牌park帕克 赋宸芯科技(苏州)有限公司 1年 查看详情 ￥40.00万/台 江苏苏州 Park帕克NX10 NX20原子力显微镜...
它主要通过探测AFM探针针尖和样品之间的接触电位差(VCPD)来对导电和半导体材料上的表面电位分布进行成像[4]。因此,该技术可以收集有关功函数、材料不均匀性、局部俘获电荷、嵌入纳米结构、互连故障等信息[5, 6]。当导电AFM探针针尖与导电或半导体样品电连接时,针尖和样品的费米能级对齐。因此,电子从具有较低功函数...
导电针尖KPFM/EFM/C-AFM/PFM/SCM > | 全Pt/PtIr金属针尖 | 镀Pt针尖 | 镀Au针尖 | 镀TiN针尖 | 镀W2C+针尖 | 镀PtSi针尖 | 镀Ti/Ir针尖 磁力针尖 > | 镀Co-Cr针尖 | 超细Co-Cr针尖 | 镀Co-Fe针尖 金刚石针尖/压痕/摩擦/导电 > | 纳米压痕针尖 | 全金刚石导电针尖 | 全金刚石针尖...