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晶圆应力双折射测量仪PA-110-T将特殊的高速偏光感应器与XY stage 结合起来, 8英寸晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 所以由定量化的结晶缺陷评估,提高双折射品质的稳定性。 Wafer整面的双折射数据,可将结晶缺陷程度数值化。 特点: 1,XY自动Stage 拼贴功能 针对大尺寸的Wafer 数据,以拼贴方式自动合成...
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晶圆应力双折射测量仪PA-110-T,Z大可测8英寸Wafer、蓝宝石、SiC晶圆等结晶缺陷的评估,蓝宝石或SiC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到产品的性能,所以缺陷的检测和管理是制造过程中不可欠缺的重要环节,目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏光片以目视方式进行缺陷检测,但是这样的检查方式,因无法将缺陷量化,当各批...
PA110 Perforated non-woven 20GSM PA108 Embossed non-woven 20GSM PA103 Perforated non-woven 20GSM EB688 Embossed non-woven 28GSM EB628 Embossed non-woven 25GSM EB618 embossed non-woven 28GSM EB615 Embossed non-woven 25GSM EB613 Perforated non-woven 25GSM ...
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发货地 广东深圳 商品类型 电子元器件 、 集成电路(IC) 、 其他集成电路 商品关键词 NIKO、 SEM、 尼克森、 PA110BL 商品图片 商品参数 品牌: NIKO-SEM/尼克森 数量: 5000 产品应用: 电子设备 是否支持订货: 是 现货交期: 1个工作日内 是否支持样品: 是 产品认证: UL,RoHS,CSA,TUV 是否提供...