Open-Short 开短路测试: 也称为连续性或接触测试。它用于验证在器件测试过程中,DUT 上的所有信号引脚都 进行了电气接触,并且信号管脚与其它信号管脚或电源/地没有短路的现象。 测试目的: 芯片问题:设备引脚开路/短路。 芯片制造缺陷或芯片物理封装问题,例如键合线缺失、引脚短路、引脚因 静电损坏等都有可能引起开短...
失效分析 赵工 半导体工程师 2024年09月11日 08:59 北京 开短路测试open/shorttest也称为continuity test或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有开短路缺陷,例如晶圆阶段的制程缺陷,封装成品阶段打线缺陷,引脚ESD损坏,通常都会被放测试程序的最前面.它还能及时发现测试时接触是否良好,探针卡或...
TestEngineeringTeam Seminar Openshort的测试基础：利用以上描述的关系，OS测试利用ISVM测试法：二极管和连接都正常是，压降为0.65V左右二极管或连接open时，压降无限大二极管失效和连接ok时，压降接近OV。Program Preliminary C?opCyoripgyhrtig2h0t0290?08PPSSTTSSCCOORRPPOORRAATTIOIONN ...
开短路测试(openshort) 开短路测试(open_short_test)又叫continuity test或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路,及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好,探针卡或测试座是否有问题. x-D t b%}:j- 开短路测试的测试原理比较...
【答案】： 优点 相对于DC串行/静态法，运行测试向量要快得多。缺点 datalog显示的结果信息有限，当fail产生时，我们无法直接判断失效的具体情况和产生原因。
懂了OpenShort测试原理,可以算是半个芯片测试工程师了,来来来,我们一起学习一下啥叫OS测试#芯片测试 #芯片测试培训 #集成电路 - 上海顶策芯片测试培训于20240304发布在抖音,已经收获了3922个喜欢,来抖音,记录美好生活!
解析 优点 当一个失效(failure)发生时,其准确的电压测量值会被数据记录(datalog)显示出来,不管它是Open引起还是Short导致。 缺点 要求测试系统对DUT的每个管脚都有相应的独立的DC测试单元。对于拥有PerPinPMU结构的测试系统来说,这个缺点就不存在了。 反馈 收藏 ...
在晶圆测试阶段，ATE与DUT的连接通常是通过探针卡（Probe Card）实现的，而不是通过器件接口板（DIB）及...
百度试题 结果1 题目开短路测试通常被称为continuity test 或者open/short test,是对芯片管脚内部对地或对VCC是否出现开路或短路的一种测试方法。( ) A. 正确 B. 错误 相关知识点: 试题来源: 解析 A 反馈 收藏