氧元素 XPS 主峰:O1s 干扰峰:Na KLL、Sb3d、Pd3p、V2p 常见化学状态的结合能: 化学状态结合能 O1s/eV 金属氧化物529–530 金属碳酸盐531.5–532 Al2O3(矾土)531.1 SiO2532.9 有机C=O531.5–532 有机C-O~533 O-FX~535 以外来 C1s 谱峰 (284.8 eV) 作为基准进行荷电校正。 实验
氧元素 XPS 主峰:O1s 干扰峰:Na KLL、Sb3d、Pd3p、V2p 常见化学状态的结合能: 化学状态结合能 O1s/eV 金属氧化物529–530 金属碳酸盐531.5–532 Al2O3(矾土)531.1 SiO2532.9 有机C=O531.5–532 有机C-O~533 O-FX~535 以外来 C1s 谱峰 (284.8 eV) 作为基准进行荷电校正。
首先,由于氧元素很容易形成氧化物,而氧化物表面通常存在着一层氧化物薄膜,这会导致氧元素表面的电子结构发生变化,从而出现宽峰。除此之外,其他因素也可能对峰的形状起到了一定的影响。 综上所述,氧元素的XPS谱线存在三个峰的原因主要与其原子构型以及表面状态有关。其中,532和529电子型峰分别对应了O1s电子的高和...
530.0 eV 左右的峰为晶格氧 CARP O, HUISMAN C L, RELLER A. Photoinduced reactivity of titanium ...
综上所述,氧元素的XPS谱线存在三个峰的原因主要与其原子构型以及表面状态有关。其中,532和529电子型峰分别对应了O1s电子的高和低能级态,而宽峰则是由于表面状态的影响而出现的。虽然目前关于宽峰的问题还没有完全解决,但是这并不影响我们对氧元素XPS谱线的诠释和理解。 展开回答 00...