不同加工条件下得到的单晶铁TEM实验结果如图2所示,该实验使用NX2000 (FIB-SEM-Ar三束装置)来制备单晶铁TEM样品,使用HF-3300 TEM(300 kV) 对实验结果进行观察。 其中FIB的加工条件分别是:a.FIB 30kV;b. FIB 10kV;c.FIB 5kV;d.Ar+ 1kV, 10°入射; e.Ar+ 0.5 kV, 5°入射; f.Ar+ 0.5 kV,1°入射...
日立FIB-SEM系统 HITACHI三束系统NX2000系列 追求最完美的TEM样品制备工具 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。 近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损伤样品的制备需求更进一步凸显。 日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam...
二手进口日立FIB-SEM 电子显微镜NX2000便宜好机 更新时间:2024年07月09日 数智集采,工业好物狂欢趴!填写信息即可参与抽奖哦! 价格 ￥899.00 起订量 1台起批 货源所属商家已经过主体资质核查 发货地 上海 上海 数量 获取底价 查看电话 在线咨询 QQ联系 ...
日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000 名称: 聚焦离子束系统 规格: 套 品牌: HITCHI日立 型号: NX2000 特点: 追求理想的TEM样品制备工具 18122131902 查看报价 ...
FIB加工时的实时SEM观察*2例 样品:NAND闪存 加速电压:1 kV FOV:0.6 µm 加工方向控制技术(Micro-sampling®*3系统(选配)+高精度/高速样品台*)对于抑制窗帘效应的产生,以及制作厚度均一的薄膜类样品给予厚望。 加工方向控制 常规加工时 Triple Beam®*1(选配)可提高加工效率,并能使消除FIB损伤自动化...
本公司生产销售三束系统 三束系统 样品,提供三束系统专业参数,三束系统价格,市场行情,优质商品批发,供应厂家等信息.三束系统 三束系统 品牌日立|产地上海|价格200.00万|型号NX2000|行业电子显微镜|是否支持加工定制否|技术力量雄厚|是否进口是|适用范围高科技设备及纳米材料
爱企查为您提供上海爱仪通网络科技有限公司日立 Hitachi NX2000 FIB-SEM 三束系统 可制备厚度小于20nm 的超薄样品等产品,您可以查看公司工商信息、主营业务、详细的商品参数、图片、价格等信息,并联系商家咨询底价。欲了解更多热分析、电镜、衍射仪、粒度仪、光谱仪信息,
仪器种类: FIB-SEM 发射源: 冷场场发射型 分辨率: 4 nm @ 30 kV、60 nm @ 2 kV 加速电压: 0.5～30 kV 束流: 0.05 pA ～ 100 nA 电子枪: 冷场场发射型 样品台X: 0～ 205 mm 样品台Y: 0～ 205 mm 样品台Z: 0～ 10 mm 样品台R: 0～ 360°连续 样品台T: -5 ～...
日立高新公司,整合了高性能FIB技术和高分辨SEM技术,再加上加工方向控制技术以及Triple Beam®*1(选配)技术,推出了新一代产品NX2000 特点 运用高对比度,实时SEM观察和加工终点检测功能,可制备厚度小于20 nm的超薄样品 FIB加工时的实时SEM观察*2例样品:NAND闪存加速电压:1 kVFOV:0.6 µm 加工方向控制技术(Micro...
英文名称:NX2000 FIB-SEM system 优点:追求最完美的TEM样品制备工具 在尖端设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为不可或缺的工具。 在线客服获取底价申请演示索取资料 基本参数 我要提交参数指标我要纠错 查看所有参数 仪器导购 显微镜市场概况和主要行业 生命科学和半导体居前2位 ...