NS-90 Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量 NS-90 Plus可以根据需要购买升级电泳光散射技术的Zeta电位测试功能模块。 用途：NS-90 Plus纳米粒度分析仪是一款高性价比的纳米和亚微米颗粒粒径表征仪器，适用于对粒度表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90°散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器...
NS-90 Plus具有更优越的粒度分析功能,能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度的测试需求。 NS-90 Plus纳米粒度分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度,同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90 Plus融合马尔文帕纳科技术升级了兼容多种样品池 (选配) 功能,可分析样品浓度和...
NS-90 Plus纳米粒度分析仪是珠海有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后,在上一代NS-90的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90 Plus具有更优越的粒度分析功能,能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度的测试需求。 NS-90 Plus纳米粒度分...
NS-90 Plus纳米粒度分析仪是一款高性价比的纳米和亚微米颗粒粒径表征仪器,适用于对粒度表征有较高灵敏度需求的材料分析,以及需要与使用90°散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。
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NS-90ZPlus纳米粒度及电位分析仪 概念及原理 Zeta电位 分散在分散液中的颗粒表面携带的净电荷影响颗粒界面周围区域的离子分布，导致表面抗衡离子（与颗粒电荷相反的离子）浓度增加。于是，每个颗粒周围均存在双电层。分别是内层的严密层和外层的滑移层。滑移层以内，所有的离子、介质随着颗粒一起运动。这个边界称为流体...
NS-90ZPlus纳米粒度及电位分析仪 概念及原理 Zeta电位 分散在分散液中的颗粒表面携带的净电荷影响颗粒界面周围区域的离子分布,导致表面抗衡离子(与颗粒电荷相反的离子)浓度增加。于是,每个颗粒周围均存在双电层。分别是内层的严密层和外层的滑移层。滑移层以内,所有的离子、介质随着颗粒一起运动。这个边界称为流体力学...
NS-90ZPlus纳米粒度及电位分析仪 概念及原理 Zeta电位 分散在分散液中的颗粒表面携带的净电荷影响颗粒界面周围区域的离子分布,导致表面抗衡离子(与颗粒电荷相反的离子)浓度增加。于是,每个颗粒周围均存在双电层。分别是内层的严密层和外层的滑移层。滑移层以内,所有的离子、介质随着颗粒一起运动。这个边界称为流体力学...
实验使用了NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪，该仪器具有Zeta电位、纳米粒径及分子量的分析测试功能，适用于多种纳米材料的尺寸和表面电位测量。在半导体领域，MLCC作为一种高端电子元器件，产值占比超过90%，应用领域广泛。纳米钛酸钡粉体是制备MLCC的核心原材料。钛酸钡作为电介质材料，具有高介电常数、...
NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是一款高性价比的纳米颗粒粒径和纳微米颗粒Zeta电位的表征仪器,适用于对粒度和电位分布表征有较高灵敏度需求的材料分析,以及需要与使用90°散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。 典型应...