★ 日立无与伦比的SEM色谱柱和检测器设计* 2可在FIB制造期间和之后进行高分辨率SEM成像。 支架兼容TEM / STEM * 1 * 2 ★ 侧面进入式STEM / TEM型staqe * 1允许使用相同的样品架(与NB5000和Hitachi TEM / STEM兼容)。转移过程中没有用镊子处理样品会导致更高通量的TEM / STEM分析。 * 1:选购配件 * ...
NB5000双束FIB聚焦离子束系统 英文名称: 总访问: 3122 国产/进口: 进口 半年访问: 27 产地/品牌: HITACHI,JAPAN 产品类别: 显微镜附件/滤光片 型号: NB5000 最后更新: 2013-8-5 货号: 参考报价: 立即询价 电话咨询 [发表评论] [本类其他产品] [本类其他供应商] [收藏] 分享:微信新浪微博销售商:...
Hitachi's unparalleled SEM column and detector design(*2)enables high resolution SEM imaging during and after FIB fabrication. Holder compatibility with TEM/STEM(*1)(*2) A side entry STEM/TEM-type staqe(*1)allows the use of the same specimen holder (compatible with NB5000 and Hitachi TEM/...
高分辨场发射电镜 NB5000, 仪器简介:新型离子和电子双束系统为材料研究提供了无与伦比的纳米分析能力。 日立公司久负盛名的高可靠性和高性能设计在新型双束系统(超高精密聚焦离子束FIB和高分辨场发射电镜FE-SEM)中得到了完美体现,它具有高效率的样品制备能力、高精度