SPECS NAP-XPS近常压X射线光电子能谱仪的新闻报道和使用,包含仪器评测,仪器新闻报道,新闻事件,使用维护,应用等信息,SPECSX光电子能谱仪(XPS/ESCA),是一种反应条件下的原位表面分析技术,可以在较高温度下、一定压力(0.3 mbar左右)气体环境中对材料的表面进行研究。
1、本申请的目的在于提供一种nap-xps和tof-sims联用的反应表征方法,以解决现有技术中采用单一的nap-xps测试进行催化反应检测,只能实现元素及其价态的识别,无法实现质谱的质量识别,并且由于表面上的反应中间物种含量较低,不利于nap-xps的准确检测,导致检测限较高的技术问题。 2、为了实现上述目的,本申请采用的技术方案...
我们利用NAP-XPS手段分别探索了Au/Si O_2,Bi/Si O_2和Au-Bi/Si O_2界面的CO氧化反应活性.结果表明:Au/Si O_2表面的Au无法对吸附的O_2分子解离,同时对CO分子不吸附,反应全程保持金属态.Au-Bi/Si O_2表面的Au物种在引入0.1 mbar O_2后被氧化,在CO气氛下的升温实验中逐渐回到Au~0,对氧化/还原气氛...