型号 NANOMAP-500LS NANOMAP 500LS接触式三维形貌仪/轮廓仪,既有高 度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨 达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积...
NanoMap-500LS的工作原理和使用方法 一、工作原理 针尖基接触三维表面轮廓仪NanoMap-LS是传统的接触式表面轮廓仪和扫描探针显微镜(SPM)完美的的结合,允许产生扫描区高分辨的二维及三维图像(Z轴范围从nm到1mm)。它产生详细的三维和二维图像达到150x150mm扫描面积。NanoMap是利用探针和待测物表面之原子力交互作用(一定要...
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理...
Aep Technology探针三维轮廓仪NanoMap-500LS 接触式三维表面台阶仪 特点 常规的探针轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合 双模式操作(针尖扫描和样品台扫描),即使在长程测量时也可以得到最优化的小区域三维测图 针尖扫描采用精确的压电陶瓷驱动扫描模式,三维扫描范围从10μm X 10μm 到500μm X 500μm。样品...
获取该产品"探针三维轮廓仪"联系方式如下 方案2 第一步:用微信扫描二维码,关注阿仪网公众账号 第二步:在微信上输入pro9941661即可获取电话 第三步:获取后您可以直接拨打电话号码 我要推广 优质信息推广广告 介电常数及介质损耗测试仪生产厂家 台式高速离心机 ...
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平...
三维轮廓仪(接触式)NanoMap-500LS 利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术,并与压电陶瓷(PZT)扫描*结合,可以再不丧失精度的情况下,即得到超大样品整体三维轮廓图,又呈现局部三维形貌像。其中样品台扫描参考平面使用超高平坦度光学抛光平台,有效解决了以往样品台扫面,由于丝杠公差引起的...