stm32 CubeMx 实现SD卡/sd nand FATFS读写测试。材料：stm32F407ZGT6开发板、雷龙公司的SD_NAND 测试板（CSNP1GCR01-AOW）。（一开始是使用 Nandflash的操作起来不太方便而且 stm32cubemx自带的 fatfs还没有磨损平衡算法，很是难受。）CSNP1GCR01-AOW的优势：不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash（贴片式T...
我使用的型号是CSNP1GCR01-AOW, 不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash(贴片式TF卡), 尺寸小巧,简单易用,兼容性强,稳定可靠, 固件可定制,LGA-8封装,标准SDIO接口, 兼容SPI/SD接口,兼容各大MCU平台, 可替代普通TF卡/SD卡, 尺寸6x8mm毫米, 内置SLC晶圆擦写寿命10万次, 通过1万次随机掉电测试耐高低温, 支...
不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash（贴片式TF卡），尺寸小巧，简单易用，兼容性强，稳定可靠，固件可定制，LGA-8封装，标准SDIO接口，兼容SPI/SD接口，兼容各大MCU平台，可替代普通TF卡/SD卡，尺寸6x8mm毫米，内置SLC晶圆擦写寿命10万次，通过1万次随机掉电测试耐高低温，支持工业级温度-40°~+85°，机贴...
我使用的型号是CSNP1GCR01-AOW, 不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash(贴片式TF卡), 尺寸小巧,简单易用,兼容性强,稳定可靠, 固件可定制,LGA-8封装,标准SDIO接口, 兼容SPI/SD接口,兼容各大MCU平台, 可替代普通TF卡/SD卡, 尺寸6x8mm毫米, 内置SLC晶圆擦写寿命10万次, 通过1万次随机掉电测试耐高低温, 支...
stm32 CubeMx 实现SD卡/sd nand FATFS读写测试。 材料:stm32F407ZGT6开发板、雷龙公司的SD_NAND 测试板(CSNP1GCR01-AOW)。(一开始是使用 Nandflash的操作起来不太方便而且 stm32cubemx自带的 fatfs还没有磨损平衡算法,很是难受。) CSNP1GCR01-AOW的优势: ...
不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash(贴片式TF卡), 尺寸小巧,简单易用,兼容性强,稳定可靠, 固件可定制,LGA-8封装,标准SDIO接口, 兼容SPI/SD接口,兼容各大MCU平台, 可替代普通TF卡/SD卡, 尺寸6x8mm毫米, 内置SLC晶圆擦写寿命10万次, 通过1万次随机掉电测试耐高低温, ...
stm32 CubeMx 实现SD卡/sd nand FATFS读写测试。 材料:stm32F407ZGT6开发板、雷龙公司的SD_NAND 测试板(CSNP1GCR01-AOW)。(一开始是使用 Nandflash的操作起来不太方便而且 stm32cubemx自带的 fatfs还没有磨损平衡算法,很是难受。) CSNP1GCR01-AOW的优势: ...
stm32 CubeMx 实现SD卡/sd nand FATFS读写测试。 材料:stm32F407ZGT6开发板、雷龙公司的SD_NAND 测试板(CSNP1GCR01-AOW)。(一开始是使用 Nandflash的操作起来不太方便而且 stm32cubemx自带的 fatfs还没有磨损平衡算法,很是难受。) CSNP1GCR01-AOW的优势: ...
NAND FLASH读写测试 本章节对NAND FLASH的MTD6分区进行读写速度测试。MTD6是NAND FLASH的备用分区,一般存放小型文件系统,大小为32MByte。读写测试会将该分区内容擦除,请做好数据备份。 执行如下命令查询NAND FLASH分区,确认MTD6分区大小(读写请勿超出分区大小),将该分区内容擦除。