XPS是一种表面分析技术,通过照射样品表面的X射线,使样品表面的原子发生光电子发射,然后测量光电子的能量和数量,从而分析样品表面的元素组成、化学状态和电子结构等信息。XPS技术的优点在于可以对样品进行非破坏性分析,同时可以提供高分辨率的元素信息和化学状态信息。 二、MOF材料的基本特性 ...