INCH–POUND MIL–STD–750–2 3 January 2012 SUPERSEDING MIL–STD–750E (IN PART) 20 November 2006 (see 6.4) DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2: TEST METHODS 2001 THROUGH 2999 AMSC N/A FSC 5961 The documentation and process co...
《机械测试方法半导体器件》 MIL-STD-750-2B w/CHANGE 1 适用范围: 本标准适用于确定半导体器件在自然环境和军事操作条件下的抗有害影响的能力。具体包括视觉检验和机械测试方法,涵盖了从2001到2999的测试方法。 标准进行了多项修订,以符合《康复法案》第508节... ...
美国国防部标准化文件(含MIL标准) 《机械测试方法半导体器件》 MIL-STD-750-2B w/CHANGE 1 适用范围: 本标准适用于确定半导体器件在自然环境和军事操作条件下的抗有害影响的能力。具体包括视觉检验和机械测试方法,涵盖了从2001到2999的测试方法。 标准进行了多项修订,以符合《康复法案》第508节的要求,并对部分内容...
MIL–STD–750E(INPART) 20November2006 (see6.4) DEPARTMENTOFDEFENSE TESTMETHODSTANDARD MECHANICALTESTMETHODSFORSEMICONDUCTORDEVICES PART2:TESTMETHODS2001THROUGH2999 AMSCN/AFSC5961 Thedocumentationandprocess conversionmeasurednecessary tocomplywiththisrevisionshall becompletedby3July2012 Downloadedfromhttp://.everys...
-MIL-STD-750D NOTICE2 23February1996 MILITARYSTANDARD TESTMETHODSFORSEMICONDUCTORDEVICES TOALLHOLDERSOFMIL-STD-750D: 1.THEFOLLOWINGPAGESOFMIL-STD-750DHAVEBEENREVISEDANDSUPERSEDETHEPAGESLISTED: METHODNEWPAGEDATESUPERSEDEDPAGEDATE ---923February1996928February1995 ---1023February19961028February1995 ---1123...
INCH-POUND MIL−STD−750−1B w/CHANGE 2 18 April 2023 SUPERSEDING MIL−STD−750−1B w/CHANGE 1 31 January 2023 DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD ENVIRONMENTAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 1: TEST METHODS 1000 THROUGH 1999 The documentation and process ...
检测标准: MIL-STD-750 检测费用: 根据产品资料评估 检测资质: CNAS 服务项目: 二次筛选、可靠性验证、失效分析 检测报告: CNAS检测报告 实验室地点: 东莞、苏州 联系人: 冯工 价格说明 价格:商品在平台的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不...
对MIL—STD—498的综合分析 来自 维普期刊专业版 喜欢 0 阅读量: 207 作者: 张晓梅 摘要: 介绍MIL-STD-498的编写目的,重点分析该标准的结构以及相对DOD-STD-2167A的更大更改。 关键词: 软件开发;交互式开发;美国军用标准;防卫系统 DOI: CNKI:SUN:DZBZ.0.1997-04-004 年份: 1997 ...
内容提示: INCH–POUND MIL–STD–750–2 3 January 2012 SUPERSEDING MIL–STD–750E (IN PART) 20 November 2006 (see 6.4) DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES PART 2: TEST METHODS 2001 THROUGH 2999 AMSC N/A FSC 5961 The documentation and...
MIL MIL-STD-750-2B-2023的仪器谱信息,半导体器件机械测试方法 第2部分:测试方法 2001 至 2999, MECHANICAL TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES —— PART 2: TEST METHODS 2001 THROUGH 2999, ME