检测项目 PL亮度,PL波长,外观异常 无尘室使用 可 检测方式 非接触 测量方法 光致发光 型号 C15740-01 类型 MiNY PL 搭配选项 M16439-01 光谱测定模块 M16439 荧光测定模块 品牌 滨松 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或...
7月 16 日,兆驰半导体公布“Micro-LED 检测设备”专利已进入授权阶段。该专利的详情如下: 本实用新型公开了一种 Micro-LED 检测设备,其由下至上依次设置有紫外面光源、透明基板、光罩板、滤光片、CCD 检测探头。在透明基板上放置有待测的 Micro-LED 芯片,而光罩板上设有与待测 Micro-LED 芯片所处位置相匹配的...
MICRO LED晶圆级综合检测系统功能 检测晶圆尺寸:4’ 测量uLED类型:RGB 明场/PL检测类型:明场缺陷分析、电极缺陷分析、PL缺陷分析 EL电学检测项目:V-I曲线、IR1/IR2/IR3、VF1/VF2/VF3 EL色度学检测项目:Cx、Cy、WLD、EQE PL/AOI检测速度:10 min/pcs(4’) MICRO LED晶圆级综合检测系统EL检测速度:1.5 s/...
Micro-LED晶圆外观检测系统TH-AOI-1000由活动料仓、上下料Robot单元、寻边定位单元、外观检测平台和检测系统OS单元等构成。可实现自动识别料仓信息、自动上下料、寻边定位、自动检测、输出检测结果等功能。本产品主要用于Micro-LED芯片(Wafer)巨量外观缺陷检测。智能、高效、可靠、便捷。 该系统以光学检测手段提高半导体材...
8月15日，由深圳市壹倍科技有限公司（以下简称“壹倍科技”）自主研发与生产的Micro LED晶圆级AOI巨量检测设备顺利交付至Micro LED巨量转移领域头部客户。至此，壹倍科技已完成该产品线的多批次成功交付，达成了该领域头部客户群的基本覆盖。本次发货的用于Micro LED芯片的AOI量检测设备，采用超宽场、高NA、显微线扫...
Micro LED显示器的检测项目主要包括以下几个方面: 亮度和对比度测试 色彩准确性测试 响应时间测试 功耗测试 可靠性测试 每一个检测项目都有其重要性。亮度和对比度测试主要用于评估显示器在不同环境下的适应能力,确保用户在各种光照条件下都能获得清晰的画面。色彩准确性测试则帮助判断显示器是否能够真实再现所需的色彩...
近日,壹倍科技发布Micro LED晶圆级巨量检测系统α-INSPEC M1000e,该系统可以用于Micro LED晶圆级工艺制程中的发光性能全检。 据介绍,这是继日本、韩国等几家国外公司推出该类型设备后,国内首套自主研发并突破Micro LED芯片巨量检测技术的系统,为我国的新型显示制造装备国产...
Top Engineering 董事长金元南 (Kim Won-nam) 荣获久负盛名的银塔工业服务功绩勋章。通过开发世界首创的非接触式Micro LED检测设备,预计将有助于提高未来的生产率,并在增强材料、零件和设备的竞争力方面做出了各种贡献,例如开发了粘合设备,从而获得了认可。
然而Micro LED始终受到一些瓶颈技术的限制,不仅在巨量转移工艺上困难重重,在巨量检测方面,如何提高良率、降低成本,也一直困扰着许多厂商。 目前,Micro LED传统的检测方法有哪些,存在什么局限性?Micro LED未来的发展趋势是怎样的?针对Micro LED目前难以克服的良率问题,有哪些有效的解决方案?
MicroLED显示屏是一种由微米级LED单元构成的显示技术。与传统显示屏相比,它不仅具备更高的亮度和更广的色域,还可以实现更轻薄的设计,备受消费者青睐。但要想确保产品的可靠性、稳定性与安全性,科学严谨的检测显得至关重要。 为了确保MicroLED显示屏的质量,我们的检测实验室提供了全面的检测服务。根据国内外标准,检测...