微区XRF (X荧光分析)是一种无损元素分析技术,可以与传统的SEM能谱同时使用。 SEM微区-XRF,也称为SEM XRF,使用X射线源来进行成分分析,可实现痕量元素检测、层厚分析和更高能量特征X射线的探测,拓宽客户SEM EDS的分析能力,并且测试时无需破坏样品,对样品无导电性、平整性等要求。
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Micro-XRF技术在这一背景下发挥着关键作用,它能够对使用高通量方法制备的材料进行快速而准确的层厚度和化学组成变化分析。Micro-XRF技术通过非破坏性的方式,揭示材料中元素的分布情况,为材料的研究和开发提供了强有力的支持。研究人员可以利用这项技术轻松获取材料表面下几微米深度的元素分布图,为材料的全面“体检”提供...
Micro-XRF技术在这一背景下发挥着关键作用,它能够对使用高通量方法制备的材料进行快速而准确的层厚度和化学组成变化分析。 Micro-XRF技术通过非破坏性的方式,揭示材料中元素的分布情况,为材料的研究和开发提供了强有力的支持。研究人员可以利用这项技术轻松获取材料表面下几微米深度的元素分布图,为材料的全面“体检”提...
Micro-XRF分析仪 带有XTrace微点X射线源的Micro-XRF将完整的micro-XRF光谱仪的功能添加到扫描电子显微镜中。 XTrace适用于几乎任何SEM的自由倾斜腔室端口。用户可以从微量元素灵敏度和XRF分析的更高信息深度中受益。 用户友好的用于SEM的Micro-XRF系统 使用HyperMap进行分布分析可存储每个地图点的完整光谱,以进行在线和...
QUANTAX Micro-XRF for SEM XRF. Trace element sensitivity, thin film analysis and the elemental mapping of topographic samples, all with minimal sample preparation.
The XGT-9000 is a micro-XRF analyzer with the ultimate performance in speed and flexibility. It can offer <15 µm spot size and wide detectable range (C - Am).
IXRF manufactures SEM/EDS microanalysis systems, SEM-XRF X-ray sources and the ATLAS series of micro XRF spectrometers.
The XGT-9000 is a micro-XRF analyzer with the ultimate performance in speed and flexibility. It can offer <15 µm spot size and wide detectable range (C - Am).
我们将介绍涉及无制备样品的研究案例,并通过布鲁克全谱EDS 系统,探索比传统能谱能量范围更广的谱图。这个更广谱的谱图包含两个来源:SEM 电子束和来自最新的 布鲁克XTrace 2微区XRF的X射线光束。 作为一种补充分析技术,微区XRF简化了样品制备,甚至可用于分析表面不规则或粗糙的样品。这使其成为对大尺寸、多样化样品...