USL与LSL计算方式 CPK中USL是upper spec limit意即规格上限，u在这里是典型值，LSL是lower spec limit 规格下限。在信息安全领域，CPK是“Combined Public Key”的缩写，即中文名为组合公钥，是一种加密 算法，以很小的资源，生成大规模密钥，是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力强 才可能稳定地生产出质量、...
与规格公差(USL-LSL).ppt,學習內容 定義 自然公差與規格公差 製程能力指標 以管制圖進行製程能力分析 組件裝配公差 預先管制圖 製程能力指標: Cpm 值 在目標值為規格中心MS的前提下, Cpm公式定義如下 製程能力指標: Cpmk 值 以管制圖進行製程能力分析 1.當製程在管制狀態時
Minitab 会将这些分布的参数标识为第一形状、第二形状、位置和尺度。有关更多信息，请转到个体分布标识中的变换方法和公式，然后单击“Johnson 变换的方法和公式”。
题目 设某质量特性X～N(μ,,σ 2 ),USL与LSL为它的上、下规格限,不合格品率p=p L +P U ,其中( )。 A B C D E 相关知识点: 试题来源: 解析AD USL与LSL为X的上、下规格限,LSL≤X≤USL。则当X>USL或X<LSL时,X为不合格品。则
A.A B.B C.C D.D E.E 相关知识点: 试题来源: 解析 A, D 因为USL与LSL为X的上、下规格限,所以LSL≤X≤USL。因此,当X>USL或X<LSL时,X为不合格品。从而可知PL=P(X<LSL)=Ф(),PU=P (X>USL)=1-P(x≤USL)=1-Ф()。
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某元件的质量特性X服从正态分布,即X~N(μ,σ2),USL与LSL为它的上下规范限。不合格品率P = PL+ PU,其中( ) A. PL =Φ[(LSL-μ)/σ] B. PL = 1-Φ[(LSL-μ)/σ] C. PU =Φ[(USL-μ)/σ] D. PU = 1-Φ[(USL-μ)/σ] ...
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网站导航:试题大全12>正文 题目题型:选择题 难度:★★★7.7万热度 设某质量特性X~N(μ,σ2),USL与LSL为它的上、下规格限,不合格品率P=PL+PU,其中。 A.A B.B C.C D.D E.E 正确答案 点击免费查看答案 试题上传试题纠错