其原理是通过在测试芯片关闭状态下施加足够高的反向偏置电压,然后测量从芯片引脚流出的漏电流。 通常,芯片的关断状态下应该有接近于零的漏电流。但是由于一些因素如晶体管参数不一致、杂质等原因,会导致芯片在关断状态下存在小的漏电流。 在leakage测试中,测试设备会通过施加高反向偏置电压,将芯片的温度加速至一定程度...
Leakage测试即通过使用ATE系统对待测器件进行供电,并检测其非工作状态下吸取或排放的微小漏电流。 2. Leakage 测试原理 Leakage 测试主要基于集成电路器件内部结构和材料特性来进行。当待测器件处于非工作状态时,由于晶体管等元件内部结构导致局部载流子扩散与漂移而产生微小漏电流。而通过使用精密仪表和高灵敏度传感器来检...
基本测试原理(leakgetest)Leakage定义:➢Leakage通常指漏电流之现象,某种意义上与Short的状况类似,也分单根PinLeakage(对地或对电源Pin),也分PintoPin的Leakage,只是Short出现时基本上单Pin与Short的部分不存在阻抗,但Leakage指相连的两部分有一定阻抗的状况导致分流 2.基本测试原理(leakgetest)Leakage测试方法 ➢Input...
Leakage测试的意义在于在 Open-Short 测试之后,对芯片的输入IO,进行漏电流测试。可以尽早发现IO结构问题。为接下来的功能测试做准备。Leakage 主要测试数字输入IO的漏电流测量IIH/IIL, PULL HIGH/PULL LOW。 IIL…