例如,在钙钛矿太阳能电池的研究中,KPFM被用来观察钙钛矿-硅叠层太阳能电池截面的电势分布,以研究不同硅基底的形状对耗尽层厚度的影响,以及茶碱处理对钙钛矿表面电势的影响。 三、注意事项 需要注意的是,KPFM测试时电势差的变化可能受到针尖起伏带来的误差影响,因此这个测试一般定性说明问题。同时,KPFM测试也需要高精度的...
开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。 原理:基于扫描...
这次给大家演示变温KPFM的测试 首先拆下扫描器方便安装加热台 拆下XYstage盖板,安装加热台 更换成导电探针 样品事先用导电胶或银胶固定在导电样品托上 调整激光强度和位置,切换至EFM模式 KPFM功函数提前用石墨烯做好校正 选择正确的针尖类型和参数 多探针悬臂可以看见有多个工作频率峰 调出所需的信号通道 开启温控...
KPFM在半导体材料中主要用于表征在原子尺寸下的微观形貌以及测量样品的表面电势分布,得出材料界面功函数的大小,推断出内建电场的方向,明确光电子的传输机制。 其原理是两种不同的材料相互接触时,由于两者功函数的不同会发生电荷转移并最终建立稳定的电势差,此时两者的费米能级拉平,接触界面两边的真空能级差值就是接触电势...
一般地:功函数等于费米能级 KPFM测试的直接结果是表面电势差 在测试过程中,使用的是新撕的HOPG进行校准 一般地,电子往功函数高的地方走 测试已发表的文章: 文章一: 光照前后表面电势差的变化 文章二: 文章三: 牛津AFM的光电响应时间:ms级别的同时空间分辨率20nm ...
开尔文探针测试酶分子表面电势(Kelvin probe force microscopy, KPFM)是一种被广泛用于高精度的表面电势测量的方法,通常可以准确测量出微米尺度上的表面电势变化.KPFM主要利用表面电荷和表面能量(如金属或多层介质)之间的相互作用,来测量表面电势。 KPFM的工作原理是将一个大小约为10nm的金属探针运动在表面上,在进行测量...
AFM是基于STM技术发展而来的一种表面形貌分析工具。其工作原理是通过测量微悬臂探针与样品表面分子间的相互作用力，实现原子级表面形貌的观测。在扫描过程中，微悬臂的针尖与样品表面轻微接触，通过控制作用力恒定，记录下针尖位置变化，进而生成样品表面的三维图像。KPFM则主要用于半导体材料的微观形貌表征及表面...
一种电场耦合下KPFM原位测试二维材料异质结电学性能的方法,属于扫描探针显微镜成像领域。所述方法具体为:在带有300nm氧化层的硅片基底上利用热蒸镀的方法制备两个Cr/Au电极,两个电极之间的距离为5‑30um;通过键合机将金线与Cr/Au电极相连,随后金线直接与外接源表连接,利用外接源表对二维材料异质结施加直流电压,...
《p-圆KPFM测试参数对表面电势测量的影响冯 凯钆6,白 刚籼6,王美玲“6, 菅傲群“6(太原理工大学a.微纳系统研究中心;b.新型传感器与智能控制教育部和山西省重点实验室,太原030024)摘要:开尔文探针力显微镜(KPFM)是一种可以对材料表面电势进行纳米级成像的工具,是研究纳米材料表面特性的一种重要手段。高定向热解...
最近开始利用开尔文探针力显微镜(KPFM)来测试聚合物材料的表面电势。利用两台不同的KPFM仪器分别得到如下两种表面电势图,电压标尺的标注方式不同,一种是电压标尺有正有负,一种是电压标尺全部为正数。我知道的是KPFM测得是接触电势差,这个数值应该是相对值,不应该有正负。但这种接触电势差又可认为是相对于探针的相对...