KLA-Tencor 公司(纳斯达克股票代码:KLAC)日前推出了 Surfscan SP2系统,这是一套专供集成电路 (IC) 市场采用的全新控片检测系统,该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的 Surfscan SP2 对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高,且与其上一代业界的产品 Surfscan SP2 相比...
近日,KLA-Tencor" title="KLA-Tencor">KLA-Tencor公司推出了Surfscan SP2XP,这是一套专供集成电路(IC)市场采用的全新控片检测系统" title="检测系统">检测系统,该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的Surfscan SP2XP对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高,且与其上...
近日,KLA-Tencor" title="KLA-Tencor">KLA-Tencor 公司推出了Surfscan SP2XP,这是一套专供集成电路(IC)市场采用的全新控片检测系统" title="检测系统">检测系统 ,该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的Surfscan SP2XP对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高,且与其...
KLA-Tencor'sNewSurfscanSP2XPWaferInspectionSystemCombinesHighestSensitivity andThroughputToEnable45nmGenerationDefect-FreeWafers SANJOSE,Calif.,—January30,2007—KLA-Tencor(NASDAQ:KLAC)todayintroducedtheSurfscanSP2 XP system,anew unpatternedwaferinspectionsystemdesignedtomeet45nmICmanufacturingrequirementsforalltypes...
KLA-Tencor晶片检测集团的副总裁兼总经理Mike Kirk表示:"高性能元件的制造商认识到芯片制程的复杂性日益增加,同时这些元件的市场窗口期也日益缩短,Surfscan SP2XP系统解决了快速检出制程机台其正造成过多缺陷的需求,并在最低的晶片报废率、良率损失和市场延迟下修正此问题。我们的新机台能解决此挑战,不仅在灵敏度和...
KLA-Tencor 公司推出了 Surfscan:registered: SP2XP,这是一套专供集成电路 (IC) 市场采用的全新控片检测系统,该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的 Surfscan SP2XP 对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高,且与其上一代业界领先的产品 Surfscan SP2 相比,在按缺陷...
Surfscan SP3 工具可以相互搭配并与工厂现有的 Surfscan SP2 和 SP2XP 基线工具进行关联,以提高工具组合的灵活性及工厂的产能。为了保持高性能和高产能,Surfscan SP3 工具由 KLA-Tencor 的综合服务网络提供支持。 产品图片: 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,...
今天,KLA-Tencor 公司推出了 Surfscan® SP2XP,这是一套专供集成电路 (IC) 市场采用的全新控片检测系统,该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的 Surfscan SP2XP 对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高,且与其上一代业界领先的产品 Surfscan SP2 相比,在按缺陷...
KLA.Tencor公司日前推出了SurfscanSP2XP, 这是一套专供集成电路(IC)市场采用的全新控片 检测系统,该系统是根据去年在晶片制造市场上推 出并大获成功的同名姊妹机台开发而成.全新的 SurfscanSP2Ⅻ对硅,多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵 敏度更高,且与其上一代业界领先的产品Surfscan SP2相比,在按缺陷类型和大小来分类...
kla-tencor正式发布最新 surfmonitor 系统,该模块扩展了业界领先的 surfscan sp2 无图形表面检测系统,超越了传统的缺陷检测范围,具备监控工艺变化和偏移的能力。 surfmonitor 系统专门用于测量裸晶片或薄膜表面形态变化,而这些变化与多种工艺参数如表面粗糙度、微粒尺寸和温度等均有关联。该系统可在收集缺陷信息的同时,在...