4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V)和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪,4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。4200A-SCS●ClariusTM基于GUI的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时...
keithley(吉时利)4200A-SCS中文技术手册
Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有高精度和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中最先进的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程,因此用户可以更...
4200-SMU 中功率 SMU 1 ±210 V,±100 mA,四象限操作 最低测量分辨率 0.1 μV,100 fA 选配的预放大器将测量分辨率扩大至 0.1 fA 超低频率 C-V 和准静态 C-V 测量 4210-SMU 高功率 SMU 1 ±210 V,±100 mA,四象限操作 最低测量分辨率 0.1 μV,100 fA 选配的预放大器将测量分辨率扩大至 0.1 fA...
4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成 (420●V差分) 的参数分析仪,可以同步查看电流电压(I-V)、电容电压(C-V) ●●选配CVIV多功能开关,在I-V测量和C-V测量之间简 和超快速脉冲式I-V特性。作为性能最高的参数分析仪, 便切换 4200A-SCS加快了半导体、材料和工艺开发速度。 脉冲式 I-V 超快速脉冲测量...
4200A-SCS参数分析仪4200A-SCS参数分析仪产品技术资料主要性能指标I-V源测量单元(SMU)●●±210V/100mA或±210V/1A模块●●100fA测量分辨率●●●10mHz-10Hz超低频率电容测量●●四象限操作●●2线或4线连接C-V多频率电容单元(CVU)●●AC阻抗测量(C-V,C-f,C-t)●●1kHz-10MHz频率范围●●±30V(60V...
keithley(吉时利)4200A-SCS中文技术手册
吉时利(Keithley)4200-SCS半导体特性分析系统主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特 的浏览器...
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。 特点 “点击”测试定序;“手动”探测器模式测试探测器功能;假探测器模式无需移除命令即可实现调试。
容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。