型号 4200 封装/规格 闲置 包装 盒装 最小包装量 1 频率 1 kHz至10 MHz 相变存储 PRAM 铁电存储 FeRAM 阻变存储 RRAM 扫描 标准C-V 光电子器件 LED,OLED 数量 10 封装 箱子 批号 4864 可售服务 租售/回收/维修 品牌 KEITHLEY吉时利 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格...
用途 半导体分析测试 重量 20KG 分辨率 1 kHz 到 10 MHz 型号 4200A-SCS 直流电流范围 10 aA - 1A 直流电压范围 0.2 µV - 210 V 数量 10 批号 23+ 品牌 Keithley吉时利 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所...
4200A-SCS 可容纳所有必要的仪器,用于通过组件或晶圆测试执行全面的 MOS 设备检定。 内含测试和项目可以解决 MOSCap 的氧化物厚度、门限电压、掺杂浓度、移动离子浓度等问题。 只需触摸一个仪器盒中的按钮,即可运行所有这些测试。 Keithley 4200A-SCS半导体特性分析系统...
用途 材料和半导体参数分析 型号 4200-SCS 4200-SCS半导体特性分析系统:直流I-V、C-V、脉冲和瞬态特性分析实时绘图和分析超过400种样品器件测试库该系统特点:进行极低频C-V测量与同类竞争系统相比,能并行测试更多器件多大12个带脉冲功能的同步超快I-V通道 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可...
吉时利(Keithley)4200-SCS半导体特性分析系统主要特点及优点直观的、点击式Windows操作环境独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA用于高级半导体测试的新型脉 冲与脉冲式I-V功能集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储独特 的浏览器...
吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪表征系统执行实验室级 DC 和脉冲器件表征、实时绘图和分析,具有高精度和亚 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步电流-电压 (IV)、电容-电压 (CV) 和超快脉冲 IV 测量。 Keithley 4200A-SCS 参数分析仪可将表征复杂性和测试设置降低多达 50%,提供清晰、不折不扣...
Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有高精度和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中最先进的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程,因此用户可以更...
4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境,为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能 ...
容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。
使用4200A-SCS参数分析仪(参数测试仪)加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能领先电学特性参数分析仪,提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。