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JXA-iHP200F和JXA-iSP100均具有高度可扩展性。其不仅可用于WDS和EDS系统,而且可结合软X射线发射分光仪(SXES)进行化学状态分析,结合电子背散射衍射系统(EBSD)进行晶体取向分析,以及整合阴极发光检测器(CL)用于广泛应用中的多样化分析。 备注:EPMA是“电子探针显微分析仪”(Electron Probe Microanalyzer)的缩写。
日本电子JXA-iSP100 电子探针显微分析仪 电子零件 日本电子株式会社(JEOL) 仪器种类:型号:JXA-iSP100详细参数和报价 申请演示 询价 产品简介 ◇ [Self Maintenance] 内置18种类校正样品,有效进行校正 配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误;利用夜间对仪器进行...
东京--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100。 产品开发背景 在钢、汽车、电子零件和电池材料等广泛工业领域中,电子探针显微分析仪(...
东京--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)(总裁兼首席运营官:Izumi Oi)宣布于2019年11月推出新型肖特基式(Schottky)场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB6电子探针显微分析仪JXA-iSP100。 本新闻稿包含多媒体。此处查看新闻稿全文: https://www.businesswire.com/news/home...
探针电流范围 1 pA to 10 μA 探针电流稳定性 ± 0.05% / h, ± 0.3% / 12 h(W) 二次电子像分辨率(观察模式) 6 nm(W), 5 nm(LaB6)*3 扫描放大倍率 ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) 扫描图像分辨率 Maxium 5,120 × 3,840 JXA-iSP100 电子探针显微分析仪,JXA-iSP100 JXA-iSP100 ...
JXA-iHP100能更加有效地进行观察分析操作,是更先进的一体化EPMA。 * EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称 日本电子JXA-iSP100 电子探针显微分析仪 汽车由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于日本电子JXA-iSP100 电子探针显微分析仪 汽车 报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。 注:该产品未...