数据采集:启动分析程序,电子束扫描样品表面,探测器收集发射的特征X射线。 数据处理:使用软件对采集的数据进行分析,生成元素分布图和定量结果。 结果分析:解释分析结果,评估样品的组成和微观结构特征。 清洁与维护:分析结束后,清理样品台和仪器内部,定期进行维护以保持仪器性能。 JEOL JXA-8230电子探针显微分析仪有哪些实...
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JXA-8230 电子探针显微分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。 详细介绍 JXA-8230 电子探针显微分析仪 日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高...
日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪 检测元素范围WDS:(Be)*1 /B～U, EDS:B～U X射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm, EDS EDS检测的能量范围: 20keV 分光谱仪数量WDS: 1～5道可选、EDS: 1台 zei大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm(H)...
电子探针 SKAPHIA适用于放射性样品的带屏蔽功能的电子探针显微分析仪 JXA-iHP200F 场发射电子探针显微分析仪 岛津 电子探针EPMA-1720 Series 岛津EPMA-8050G 电子探针显微分析仪 日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于日本电子JXA-8230 电子探针显微分析...
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