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JXA-8530FPlus电子探针显微分析仪In-Lens肖特基场发射电子枪与新软件相结合,在保持高稳定性的同时提供了更高的吞吐量,30mm2硅漂移探测器 (SDD)。配备高度可扩展的标本室和标本交换室,强大、洁净的真空系统,包括两台磁悬浮涡轮分子泵。此外,还为电子光柱提供了两级中间室,通过差动抽气保持电子枪腔内高真空。
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JXA-iHP200F场发射电子探针显微分析仪 2003年日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针(FE-EPMA),此后被广泛地应用于金属、材料、地质等各个领域,并获得了极高的赞誉。zei新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus,电子光学系统有了很大的改进,新的软件能提供更高的通量,并保持着极高的稳定性,能实现更广...