DTS-1000测试系统通过与分选机、探针台等设备的连接,可实现半导体器件的高速测试、分选,该系统可测器件包括二极管(Diode)、稳压管二极管(Zener)、晶体管(Transistor)、场效应管(Mos-Fet)。通过增加功能选件,可测试可控硅(Scr)、稳压管(3 Terminal Regulator、Shunt Regulator)、放电管(Tvs)等等。系统具有良好的扩展性...
JUNO DTS-1000测试机作业指导书 1目的 使操作人员能够正确操作JUNO DTS-1000测试机。 2范围 此指导书适用于JUNO DTS-1000测试机。 3权责 从事JUNO DTS-1000测试机之操作人员。 4工作程序 DTS-2000/1000测试机前应学习本作业指导书 、配套设施、技术参数 ...
电话：0086-21-3415-3294 传真：0086-21-5478-5377 电子邮件：*** 1 OF 5 热 电 阻 测 试 说 明 书 1 概略 1.1 VBE 功能件，是通过测试主机，作为PN 接触面的温度变化(mV)，测试器件的热 电阻特性，再与规定值比较及判断，并表示△VF 值。 2 规格 2.1 测试范围 2.1.1 所测器件：晶体管...
JUNO DTS-1000 测试机作业指导书 1 目的 使操作人员能够正确操作 JUNO DTS-1000 测试机。 2 范围 此指导书适用于 JUNO DTS-1000 测试机。 3 权责 从事 JUNO DTS-1000 测试机之操作人员。 4 工作程序 4. 1 在使用 JUNO DTS-2000/1000 测试机前应学习本作业指导书 4. 2 设备名称、 配套设施、 技术...
JUNO DTS-1000测试机作业指导书 1目的 使操作人员能够正确操作JUNO DTS-1000测试机。 2范围此指导书适用于JUNO DTS-1000测试机。 3权责从事JUNO DTS-1000测试机之操作人员。 4工作程序 4.1在使用JUNO DTS-2000/1000测试机前应学习本作业指导书 4.2设备名称、配套设施、技术参数 4.2.1设备名称及外形图:JUNO DTS...