TMS320 在设置好JTAG控制器的引脚(Pin Mapping中设置)后,然后在Test Reset Sequence中创建测试复位序列,每个步骤都允许一个TAP信号改变状态: 使用“Add...”按钮创建新序列并提供名称。 从窗口底部的Add Pin菜单中添加相关的 TAP 信号。在此示例中,需要 TCK 和 nTRST。但是,最好也包括TMS,以确保它在序列中保持高...
不同于BYPASS指令,在IDCODE模式下IR的值没有标准。不过每次TAP控制器跳转到Test-Logic-Reset态,它会进入IDCODE模式,并装载IDCODE到DR。 5、边界扫描: TAP控制器进入边界扫描模式时,DR链可以遍历每个IO块或者读或拦截每个引脚。在FPGA上使用JTAG,你可以知晓每个引脚...
不过每次TAP控制器跳转到Test-Logic-Reset态,它会进入IDCODE模式,并装载IDCODE到DR。 5、边界扫描: TAP控制器进入边界扫描模式时,DR链可以遍历每个IO块或者读或拦截每个引脚。在FPGA上使用JTAG,你可以知晓每个引脚的状态当FPGA在运行的时候。可以使用JTAG命令SAMPLE,当然不同IC可能是不同的。 这里没有过多的讲解JTA...
不同于BYPASS指令,在IDCODE模式下IR的值没有标准。不过每次TAP控制器跳转到Test-Logic-Reset态,它会进入IDCODE模式,并装载IDCODE到DR。 5、边界扫描: TAP控制器进入边界扫描模式时,DR链可以遍历每个IO块或者读或拦截每个引脚。在FPGA上使用JTAG,你可以知晓每个引脚的状态当FPGA在运行的时候。可以使用JTAG命令SAMPLE,...
该结构中包括了在IEEE 1149.1标准中所定义的所有的JTAG模块,其中包括测试端口控制器TAP(Test Access Port) Controller模块、指令寄存器IR(Instruction Register)模块以及数据寄存器DR(Data Register)模块。其结构以及各模块间的控制关系大致如下图所示: TAP将根据TRST(Test Reset)、TCK(Test Clock)、TMS(Test Mode ...
大多数的JTAG IC都支持IDCODE命令。在IDCODE命令中,DR寄存器会装载一个32bit的代表器件ID的值。不同于BYPASS指令,在IDCODE模式下IR的值没有标准。不过每次TAP控制器跳转到Test-Logic-Reset态,它会进入IDCODE模式,并装载IDCODE到DR。 5、边界扫描: TAP控制器进入边界扫描模式时,DR链可以遍历每个IO块或者读或拦截...
得到JTAG链中的器件ID:大多数的JTAG IC都支持IDCODE命令。在IDCODE命令中,DR寄存器会装载一个32bit的代表器件ID的值。不同于BYPASS指令,在IDCODE模式下IR的值没有标准。不过每次TAP控制器跳转到Test-Logic-Reset态,它会进入IDCODE模式,并装载IDCODE到DR。
TAP将根据TRST(Test Reset)、TCK(Test Clock)、TMS(Test Mode Select )三个输入信号而产生一组对IR与DR的控制信号。它对测试接入端口提供的控制序列作出响应,并产生TAP的控制序列(时钟和控制信号等),从而控制其它的测试模块。IR模块响应TAP模块的控制而产生相应的控制信号,然后与TAP模块共同控制DR模块的动作,比如数...
TDO: Test Data-out。TDO 是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过 TDO 接口一位一位串行输出的(由 TCK 驱动)。 TRST: Test Reset (Optional),具有内部弱上拉电阻。TRST 可以用来对 TAP Controller 进行复位(初始化)。因为 TRST 是可选的,所以有四线 JTAG 与五线 JTAG 之分。
得到JTAG链中的器件ID:大多数的JTAG IC都支持IDCODE命令。在IDCODE命令中,DR寄存器会装载一个32bit的代表器件ID的值。不同于BYPASS指令,在IDCODE模式下IR的值没有标准。不过每次TAP控制器跳转到Test-Logic-Reset态,它会进入IDCODE模式,并装载IDCODE到DR。